EM238-SASY EM238 SASY探測(cè)器Sens-Tech

普索貿(mào)易

1、所有產(chǎn)品直接通過德國(guó)*采購(gòu)，歐元交易享受歐盟區(qū)域特殊折扣。

2、所有產(chǎn)品100％*，原廠Packing List、Invoice、原廠證明、原產(chǎn)地證明、德國(guó)香港海關(guān)關(guān)単手續(xù)齊全。

3、歐盟境內(nèi)5000余家供應(yīng)商，包含施耐德、菲尼克斯等3000多個(gè)工控自動(dòng)化品牌，500多份原廠提供價(jià)格表迅速報(bào)價(jià)。

4、每周法蘭克福-香港空運(yùn)專線，香港-深圳72小時(shí)清關(guān)，貨期優(yōu)勢(shì)較北京、上海等更加快速靈活。

5、公司內(nèi)部無紙化ERP辦公，詢報(bào)價(jià)處理及時(shí)快速！

由于產(chǎn)品型號(hào)眾多，網(wǎng)上表述不全，如需型號(hào)確認(rèn)或，歡迎咨詢；我們將以認(rèn)真負(fù)責(zé)的態(tài)度、周到細(xì)致的服務(wù)處理您的每一次來電。

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EM238-SASY EM238 SASY探測(cè)器Sens-Tech

英國(guó)Sens-Tech公司——X射線和弱光探測(cè)系統(tǒng)
英國(guó)Sens-Tech公司的前身是有名的EMI公司，是X射線探測(cè)器、信號(hào)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和光電倍增管模塊產(chǎn)品的專業(yè)供應(yīng)商，在光電探測(cè)領(lǐng)域擁有豐富的成功經(jīng)驗(yàn)。Sens-Tech的產(chǎn)品集信號(hào)探測(cè)、模擬信號(hào)放大、數(shù)字輸出于一體，有多種控制功能可供選擇，可方便地與計(jì)算機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)圖像或信號(hào)的數(shù)字化處理。

應(yīng)用領(lǐng)域：
行李箱包檢測(cè)
食品檢測(cè)
高能射線探測(cè)
數(shù)字醫(yī)療成像
鋼板測(cè)厚
無損檢測(cè)
輪胎檢測(cè) X-ray Detection Systems

Sens-tech EM217

Sens-tech EM238

Sens-tech EM195

Sens-tech EM238-SASY

Sens-tech EM195-SASY

我們還做一下產(chǎn)品：

PMA TB40-110-00090-U01

ABB PMSK115 3BSE007999R1

IPF PS18C715

IPF PE18C71

IPF PS18C715

IPF PS18C714

IPF PE18C715

IPF PS18C714

INGUN KS-113 30 M2-R-S

INGUN KK541 400 FC 1410 M2 3S05 A

EATON FG-02-300-50-S10

EATON SV3-10-C-0-24DG

EATON KBFDG5V-8-33C375N-X-M1-PE7-H4

EATON DGFN-06-50

EATON DGPC-06-AB-51

EATON DGX-06-2F-60

EATON DG5S-8-6C-T-M-U-H5-30

EATON SV3-10-0-00-24VDC

MAXCESS SE-26

EGE IGMF 05

K-PATENTS 58PR9004

MAXIMATOR L 250-2VES

MAXIMATOR G 150-2VES

MAXIMATOR 65V4H872-YHNC

MAXIMATOR 650C6H

MAXIMATOR 65V4H882

MAXIMATOR 65V4H872

flucom DPC 30/T-N

flucom LPA30/D-200(LPA30/D-N)

EATON RV3-10-S-0-3/

E+H FTI56-AAY9YY943A2A

DUFF-NORTON SRDEK 1860

DUFF-NORTON SRDEK 1834

DUFF-NORTON SRDEK 1821

Baumer UNAM 12P19/405689 SD10-45MM 405689 SD10-45MM

DOLD Safemaster STS 0062254

X射線探測(cè)器中重要的系統(tǒng)參數(shù)便是能量分辨率，能量分辨率反映了探測(cè)器對(duì)不同類型的入射粒子的能量分辨能力。能量分辨率越小，則表示探測(cè)器可區(qū)分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為、相對(duì)分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬（FWHM）來表示的被稱為分辨率；而相對(duì)分辨率則是使用分辨率與峰位的比值來表示。

探測(cè)器的能量分辨率受諸多因素的影響，如：探測(cè)器的有效探測(cè)面積、探測(cè)元器件類型、甑別和計(jì)數(shù)器能力、后續(xù)處理電路時(shí)間常數(shù)等。在此時(shí)間常數(shù)通常指脈沖處理器所耗費(fèi)時(shí)間，也就是是射線從進(jìn)入探測(cè)器后，其測(cè)量并處理能量所需時(shí)長(zhǎng)。探測(cè)器分辨率與其時(shí)間常數(shù)、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關(guān)聯(lián)，即：面積大小與分辨率高低成反比；當(dāng)面積不變時(shí)，時(shí)間常數(shù)與光子測(cè)量準(zhǔn)確度同時(shí)增加時(shí)，其分辨效果越好[5]。由此不難看出，時(shí)間常數(shù)是影響分析效率與能量分辨率的重要因素，然而兩者卻無法同一，因此從儀器實(shí)用層面出發(fā)，必須讓分辨率與靈敏度兼顧。

X射線探測(cè)器中重要的系統(tǒng)參數(shù)便是能量分辨率，能量分辨率反映了探測(cè)器對(duì)不同類型的入射粒子的能量分辨能力。能量分辨率越小，則表示探測(cè)器可區(qū)分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為、相對(duì)分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬（FWHM）來表示的被稱為分辨率；而相對(duì)分辨率則是使用分辨率與峰位的比值來表示。

探測(cè)器的能量分辨率受諸多因素的影響，如：探測(cè)器的有效探測(cè)面積、探測(cè)元器件類型、甑別和計(jì)數(shù)器能力、后續(xù)處理電路時(shí)間常數(shù)等。在此時(shí)間常數(shù)通常指脈沖處理器所耗費(fèi)時(shí)間，也就是是射線從進(jìn)入探測(cè)器后，其測(cè)量并處理能量所需時(shí)長(zhǎng)。探測(cè)器分辨率與其時(shí)間常數(shù)、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關(guān)聯(lián)，即：面積大小與分辨率高低成反比；當(dāng)面積不變時(shí)，時(shí)間常數(shù)與光子測(cè)量準(zhǔn)確度同時(shí)增加時(shí)，其分辨效果越好[5]。由此不難看出，時(shí)間常數(shù)是影響分析效率與能量分辨率的重要因素，然而兩者卻無法同一，因此從儀器實(shí)用層面出發(fā)，必須讓分辨率與靈敏度兼顧。

X射線探測(cè)器中重要的系統(tǒng)參數(shù)便是能量分辨率，能量分辨率反映了探測(cè)器對(duì)不同類型的入射粒子的能量分辨能力。能量分辨率越小，則表示探測(cè)器可區(qū)分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為、相對(duì)分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬（FWHM）來表示的被稱為分辨率；而相對(duì)分辨率則是使用分辨率與峰位的比值來表示。

探測(cè)器的能量分辨率受諸多因素的影響，如：探測(cè)器的有效探測(cè)面積、探測(cè)元器件類型、甑別和計(jì)數(shù)器能力、后續(xù)處理電路時(shí)間常數(shù)等。在此時(shí)間常數(shù)通常指脈沖處理器所耗費(fèi)時(shí)間，也就是是射線從進(jìn)入探測(cè)器后，其測(cè)量并處理能量所需時(shí)長(zhǎng)。探測(cè)器分辨率與其時(shí)間常數(shù)、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關(guān)聯(lián)，即：面積大小與分辨率高低成反比；當(dāng)面積不變時(shí)，時(shí)間常數(shù)與光子測(cè)量準(zhǔn)確度同時(shí)增加時(shí)，其分辨效果越好[5]。由此不難看出，時(shí)間常數(shù)是影響分析效率與能量分辨率的重要因素，然而兩者卻無法同一，因此從儀器實(shí)用層面出發(fā)，必須讓分辨率與靈敏度兼顧。