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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,交通,航天,汽車 |
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IRMS8599B通過將光線投射到要測量的薄膜上并測量來自前后反射光的干涉來測量薄膜厚度。膜厚使用以下原理來測量：隨著膜厚的增加，在反射光譜中出現(xiàn)的波（干擾波）的數(shù)量增加。無需校準(zhǔn)曲線即可進行高精度測量。
連續(xù)光譜法可進行FFT分析和CF（曲線擬合）分析
同時測量多達(dá)4層
工作溫度0至50°C，IP65（防塵和防滴結(jié)構(gòu)）
產(chǎn)品簡介
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日本CHINO千野 光學(xué)干涉型膜厚計IRMS8599B
日本CHINO千野 光學(xué)干涉型膜厚計IRMS8599B
