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JIMA RT RC-02B分辨率測試卡,X射線分辨率測試卡詳細介紹:
JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
JIMA RT RC-02B分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm
圖案布局:L型
線/空間尺寸: 16種規格圖案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-04 X射線分辨率測試卡
JIMA RT RC-05分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
圖案布局:T型 (3-10μm)
I 型 (15-50μm)
線/空間尺寸:16種規格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡
JIMA RT RC-04分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
圖案布局:T型
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