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當前位置:> 供求商機> HC-OMS2-非接觸光學變形綜合測量系統(tǒng)
一、概述
建研華測(杭州)科技有限公司推出的HC-OMS2非接觸光學變形綜合測量系統(tǒng),是結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(DIC)與雙目立體視覺的一種非接觸測量技術(shù),主要原理是通過雙目立體視覺方法,通過獲取物體表面變形前后的數(shù)字散斑圖像,追蹤散斑位置和形狀的變化,實現(xiàn)變形過程中物體表面位移及應(yīng)變的測量。本產(chǎn)品獲得多項自主知識產(chǎn)權(quán),多項指標和整機處于水平,具有精度高、速度快、易于操作、非接觸以及全場數(shù)據(jù)測量的優(yōu)勢。
主要功能
◆實時精確測量二維和三維參數(shù)
◆位移、應(yīng)變、泊松比等,應(yīng)力/應(yīng)變曲線、彈性模量(力信號接入)
◆實時測量多個目標點,橫縱向均可測量
◆同步測量多個參數(shù),比如: 同時測量位移、變形、泊松比等
◆拍攝實驗過程, 后期可對錄像進行再分析
二、性能特點
測量所需前期準備簡單,只需保證被測試件表面具有灰度隨機變化散斑或者標記點。如無明顯特征, 標記筆做形狀各異的顏色標記,或?qū)Ρ槐砻鎳娖岙a(chǎn)生隨機分布的黑白斑點;視頻引伸計的測量簡單,將相機正對著表面有散斑圖案的試驗件后,即可在圖像中任意一測量區(qū)域或一系列的目標點,隨后分析軟件將實時、準確跟蹤視頻中這些目標點在不同視頻圖像中的亞像素位置,并根據(jù)已獲得的位移實時計算應(yīng)變以及其它信息。
作為一種非接觸的光學測量方法,視頻引伸計避免了應(yīng)變電測法中在被測試件上粘貼應(yīng)變片的繁瑣過程。視頻引伸計可以同時獲得圖像中任意多個點的位移和變形信息,相當于安裝幾百甚至幾萬個位移計和應(yīng)變片和引伸計,可清晰觀察到位移和應(yīng)變變化。
通過實時分析 CCD 相機拍攝表面的視頻圖像進行位移和應(yīng)變場的測量,測量范圍從幾毫米到數(shù)十米,應(yīng)變范圍從微米級到毫米級,對測量環(huán)境和測量物的材料和幾何形狀沒有任何限制。適用于尺寸極小、超大的物體;極低溫、超高溫環(huán)境等。
三、技術(shù)參數(shù)
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