日本東京電色顯微表面光譜比色計TC-1800M

該設(shè)備用于液晶濾色片，印刷品的顏色評估和CCM汽車涂層件搜索。

在可見光380和780 nm之間以5 nm的步長找到81點光譜反射率和光譜透射率測量/色差。

[本樂qi的特點]

光譜測量以380至780 nm之間的5 nm步長進行測量

符合JIS-Z8722 1型分光光度計

用于液晶的20微米至300微米彩色濾光片的測量

方便進行自動舞臺。

日本東京電色顯微表面光譜比色計TC-1800M

[本樂qi的特點]

光譜測量以380至780 nm之間的5 nm步長進行測量

符合JIS-Z8722 1型分光光度計

用于液晶的20微米至300微米彩色濾光片的測量

方便進行自動舞臺。