產品特點                                      
★采樣精度高：精確的采樣技術，采樣頻率40000Hz，位移精度16位。
★內置操作電源：內置可調直流電源，帶短路保護功能，可同時滿足低電壓和高電壓動作試驗。
★人性化界面：window操作系統，7寸大屏幕彩色液晶觸摸屏，軟鍵盤字符輸入，可新建開關型號、速度定義及完成相關參數的保存、    刪除、設置、測試、分析等操作。
★內置一鍵調壓：軟件自帶電壓調節功能，在做低電壓試驗時只需要根據客戶的要求直接選擇不同的電壓，系統即可自動升壓或降壓，      進行自動調節，省去手動調壓慢，誤差大的麻煩。分別設置有30%，65%，85%三個檔位，方便用戶做低電壓試驗用，此項功能讓儀    器的操作更簡便。
★傳感器靈活設置：可以選用直線位移傳感器也可使用角位移傳感器，可任意設置傳感器的安置位置。
★儀器操作方便：全自動測試，方便快捷。儀器會自動識別合、分閘，完成單合、單分、重合閘測試僅需按一下測試按鈕即可以完成測      試和結果顯示。
★多種測試類型：能夠實現開關單分、單合、合分、分－合分測試。
★多種測試方式：可設置內控（內觸發）、外控（外觸發）、手動、電保持模式（接觸器）、機械保持模式（斷路器）。
★速度定義靈活：通用速度定義模板，提供“占總行程分比”、 “時間”、“行程”三種方式分別定義速度范圍，滿足各種速度測試要求，同      時可設置、修改、刪除、保存各類開關型號、速度定義，形成用戶自己的開關定義庫。
★波形顯示全面：6路觸頭通斷、線圈電流、行程、時間波形。
★寬幅高速打印：內置80mm高速熱敏打印機，創市場同類產品中使用寬版打印機的先例。打印機面板安裝、數據表單打印美觀清      晰、波形直觀。
★USB數據通訊：面板配置兩個USB接口可進行數據導入、導出或連接鼠標、鍵盤等外圍設備。配有上位操作軟件，可在電腦上對測試數    據進行多樣化的分析計算，打印存檔。
★大容量存儲： 測試結果直接保存在硬盤，大容量存儲，測試結果數據庫管理，可方便查詢歷史測試記錄。

技術指標                                   

• 主機外形尺寸：370mm×280mm×240mm；主機重量：10kg
• 使用環境：環境溫度：-10℃～50℃；相對濕度：＜80%
• 工作電源：電壓：AC220V±10%；頻率：50Hz±5%
• 安全性能：絕緣電阻：＞2MΩ；漏電流：＜3.5mA
• 直流電源：調整范圍：30～270V；準確度: ±（1%讀數+1個字）；負載變化率：≤1%
• 額定電流：10A       zui大瞬時電流：20A
• 外接電源：允許外接電源：0～20A
• 時間通道： 6路（A1,B1,C1,A2,B2,C2）或（A1,B1,C1,F1,F2）斷口電壓12V
• 可測量輔助開關配合時間，采樣頻率：40KHz    
• 行程通道：  位移傳感器：1路， 采樣頻率：40KHz，分辨率16位。
• 時間測試范圍：0.025ms～1s（可特殊定制更長時間）；準確度：±（0.1%讀數+2個字）；

HD4010-V高壓開關機械特性測試儀

產品配置單   

1. 測試儀主機                 一臺
2. 附件箱                         一個
3. 直線位移傳感器         一只
4. 角位移傳感器             一只
5. 傳感器連接電纜          一條
6. 觸頭狀態連接線          兩條
7. 觸頭狀態延長線          六根
8. 合分閘輸出線              一條
9. 儲能電源輸出線          一條
10. 外接電源輸入線          一條
11. 電源線                          一條HD4010-V高壓開關機械特性測試儀
12. 短接線                          一條
13. 萬用傳感器支架          一套
14. 打印紙                         一卷
15. 顯示屏點觸筆             一根 （選配）

    其原理在前面已經講過，tgδ是IR / IC的比值，它能反映電介質內單位體積中能量損耗的大小，只與電介質的性質有關，而與其體積大小尺寸均沒有關系。因此，tgδ的測試目的，也是能夠有效地發現設備絕緣的普遍老化、受潮、臟污等整體缺陷。對小電容設備，如套管、互感器（電容式）也能夠發現內部是否存在氣隙及固定絕緣開裂等集中性的局部絕緣缺陷。

    但要說明一點的是，針對大電容的設備如變壓器、電纜等進行tgδ的測量時，只能發現他們的整體分布性缺陷，而其局部集中性的缺陷可能不會被發現；而對于套管、互感器等小電容量的設備，測tgδ能有效地發現其局部集中性和整體分布性的缺陷，詳見如下分析。這也是大型變壓器不僅要單獨測試引出線套管的tgδ，也要測套管連同繞組的介損tgδ，就是因為套管若有缺陷時在整體絕緣良好時不能體現出來。

    一般設備的絕緣結構都由多層絕緣、多種材料構成。如局部有缺陷絕緣用C ₁ tgδ₁表示，其他良好絕緣用C ₂tgδ₂表示，兩部分并聯，則有P₁ = C ₁ tgδ₁   P₂ = C ₂ tgδ₂

    而總的損耗為P = U² ωC tgδ  ①

    U、ω一定時，P與C、tgδ有關， → P = C ₁ tgδ₁ + C ₂ tgδ₂  又C = C₁  + C₂

    則  C ₁ tgδ₁ + C ₂ tgδ₂ = C tgδ

    tgδ= （C ₁ tgδ₁ + C ₂ tgδ₂）/（C₁  + C₂）   ②

    若套管電容C ₁= 250PF，tgδ₁= 5%           （超差）

    而變壓器電容C ₂= 10000PF，tgδ₂= 0.4%      （良好）

    從②式可以看出總tgδ= 0.5 %                （合格），可見明顯形成了誤判斷。

    設備的選取及常規試驗方法：因為精度和靈敏度的原因，測變壓器和一般套管的介損時（包括電容式CT），應采用HD6000A光導介損測試儀，而當測試電容式PT電容量和tgδ時，可采用HD6000異頻介損測試儀，它介紹