• 大節點數：2592
• 大通道數：576
• 占用面積：1.6 m x 0.8 m / 5.0’ x 2.6’
• 大模塊數：2

E9905E i317x 系列 5 系統旨在滿足大多數主流電子制造商使用更小尺寸的測試機臺完成在線測試的需求。該系統采用與上一代產品――E9905D i307x 系統相同的易用型 GUI（圖形用戶界面）。自第/一款系列 1 3070 測試系統面市以來的數十年中，該系統一直保持著可移植性、可靠性和穩定性（TRS），包括當今元件所需要的使用低電壓測試的能力。

所有 i3070 系列 5 測試系統均加入了新的基礎架構，以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設備或儀器。該系統允許將外部電子設備插入測試頭，如同該設備已經集成與系統中。外部電子設備可以是功能性測試電路，用于為 ICT 提供額外的功能測試范圍，或者為被測單元提供額外的激勵，以改善測試覆蓋范圍。外部電子設備控制、測試順序和測試結果仍通過 BT-BASIC 測試計劃來實現，由用戶熟悉的測試頭 PC 控制器執行。

為了支持增強的性能，PCBA 如今擁有更高的電流要求，因此可通過測試儀向被測單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經過多路復用處理，所以一個電源可以多向一個面板中不同的 6 個電路板供電，每個電源通道都由一個繼電器控制，以保護被測單元。

i3070 系列 5 測試系統包含了一個新的模擬激勵和測量單元（ASRU），可將模擬測試速度提高 20%，進而提高產量。

此前版本中的受限接入測試工具也包含在該測試系統中。

如果您的大型電路板需要速度更快，測試覆蓋率更高的測試，那么，E9903E i307x 系列 5 系統將是/佳選擇。
 

所有 Medalist i3070 測試系統都支持多路復用（Mux）pin卡和非多路復用（UnMux）pin卡。這樣，在您使用該系統時就會有更多的靈活性。