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【產品簡介】
【詳細說明】
測量方式 | 有軌/無軌測量 | |
測量范圍 | Z軸 | 800µm, 80µm, 8µm (用備選探針zui高可達 2,400µm) |
X軸 | SJ-401: 25mm (1") SJ-402: 50mm (2") | |
驅動部 | 直線度 | 0.3µm/25mm |
測量速度 | 0.05, 0.1, 0.5, 1.0mm/s | |
返回速度 | 0.5, 1.0, 2.0 mm/s | |
高度-傾斜調整裝置 | 高度調整范圍 | ±1.5˚ |
傾斜調整范圍 | 10mm | |
評價輪廓 | 主輪廓(P), 粗糙度輪廓 (R), 波形輪廓濾波 (W), DIN4776, MOTIF (R, W) | |
評價參數 | Ra, Ry, Rz, Rq, Pc, R3z, mr, Rt, Rp, Rv, Sm, S, δc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Lo, Ppi, R, AR, Rx, Δa, Δq, Ku, HSC, mrd, Sk, W, AW, Wte, , Vo | |
分析圖標 | 負荷曲線(BAC), 振幅分布曲線(ADC) | |
區間數 | X1, X3, X5, XL＊ (＊=任意長度) | |
任意長度 | 0.1 to 25mm | |
取樣長度 (L) | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm | |
打印寬度 | 48mm/紙寬: 58mm | |
記錄倍率 | 垂直倍率 | 自動放大10-100K |
水平倍率 | 自動放大1-1K | |
檢測器 | 檢測方法 | 差動電感式 |
zui小分辨率 | 0.000125µm (8µm 范圍) | |
探針針尖 | 圓錐60°, 半徑 2µm, 鉆石 | |
功能 | 用戶自定義 | 顯示窗口/粗糙度參數可選 |
數據補償 | R面補償, 傾斜度補償 | |
線規功能 | 顯示任意兩個點的坐標差 | |
D.A.T. 功能 | 在無軌測量中幫助調整水平 | |
位移檢測模式 | 當驅動部停止運行的同時輸入探針位移量 | |
統計處理 | zui大值，zui小值，平均值，標準偏差（s），合格率，柱狀圖 | |
公差判定 | 可三個參數的上下偏差值 | |
測量條件存儲 | 五套測量條件(控制器) | |
打印機 | 熱敏打印機 | |
截止波長 | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm | |
數字濾波 | 2CR, PC75 (相位校正), Gauss | |
校正 | Ra, 階差(輸入粗糙度樣件的自動校正) | |
電源 | 通過AC適配器, 內置充電電池 (Ni-H) | |
電池 | 充電時間 | 15 小時 |
測量次數 | zui多600 次，（無打印時） | |
耗電量 | 43W (max.) | |
尺寸 | 控制裝置 | 307x165x94mm |
高度-傾斜調整裝置 | 131x63x99mm | |
驅動部 | 128x36x47mm | |
粗糙度標準 | JIS (JIS B), DIN, ISO, ANSI | |
LCD 尺寸 | 觸摸屏 | |