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貨物所在地：北京北京市
所在地： 北京
更新時(shí)間：2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學(xué)測(cè)量樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
技術(shù)指標(biāo)
| 電學(xué)測(cè)量 | 力學(xué)操縱 |
| 1.包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元； | 1.探針粗細(xì)調(diào)方式：全軟件操控； |
| 2.電流測(cè)量范圍：1nA-30mA； | 2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.細(xì)調(diào)范圍：XY方向18um，Z方向1.5um； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； |
| 5.軟件自動(dòng)測(cè)量：I-V、I-t |
產(chǎn)品選型
原位電學(xué)測(cè)量樣品桿 具有單傾、雙傾兩個(gè)版本，用戶可根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)樣品桿，同時(shí)保證透射電鏡原有分辨率。
國內(nèi)部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位電學(xué)實(shí)驗(yàn)；
2、透射電鏡內(nèi)的原位壓縮、拉伸實(shí)驗(yàn)。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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