菲希爾XAN252

無錫駿展儀器供應菲希爾X射線測厚儀Fischer特點

根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀

• 半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率

• XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；

• 準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm

• 基本濾片：固定或6種可切換

• 固定樣品支架或手動XY載物臺

• 攝像頭可輕松定位最佳測量位置

• 樣品高度最多17厘米;

應用

• 牙科合金的無損分析，銀測試

• 多層鍍層測試

• 電子和半導體行業中厚度為10nm以上的功能涂層的分析

• 消費者保護中的痕量分析，例如測試玩具中的鉛含量

• 根據珠寶業和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量