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菲希爾XDAL600
菲希爾X射線Fischer X熒光射線測(cè)厚儀特點(diǎn)
菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer x熒光分析儀采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn),用于自動(dòng)測(cè)量達(dá)到0.05μm的
ppm級(jí)含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀
無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)3種不同的探測(cè)器可選(Si-PIN二極管;SDD 20 mm2;SDD 50 mm2)
無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)3種可切換基本濾片
無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)4種可切換準(zhǔn)直器
最小測(cè)量點(diǎn)約為0.15mm
樣品最高高度可達(dá)14cm
可編程XY工作臺(tái),定位精度為10µm
開(kāi)槽箱體設(shè)計(jì)用于測(cè)量大的印刷電路板
經(jīng)過(guò)認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備
菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer x熒光分析儀應(yīng)用
菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer x熒光分析儀鍍層和合金(也包括薄涂層和低濃度)的材料分析
菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer x熒光分析儀電子行業(yè),ENIG,ENEPIG
連接器和觸點(diǎn)
黃金,珠寶和制表業(yè)
PCB制造薄金(幾納米)和鈀鍍層的測(cè)量
微量元素分析
高可靠性應(yīng)用的鉛(Pb)的測(cè)定(避免錫晶須)
對(duì)硬質(zhì)材料涂層的分析
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