當前位置:> 供求商機> XDAL600菲希爾X射線測厚儀
XDAL600菲希爾X射線測厚儀
X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務
由于測量距離可以調節(.大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現自動化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產品上的鍍層
鉻鍍層,如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
電鍍槽液分析
電子和半導體行業中的功能性鍍層分析
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。