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LJD-C型絕緣材料介電常數介質損耗測試儀概述：

　　LJD-C型絕緣材料介電常數介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項技術：

　　雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

　　雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

　　雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

　　自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

　　全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

　　DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。

　　計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

　　LJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

　　主要技術特性：

　　Q 值測量范圍:       2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

　　固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)

　　工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)

　　電感測量范圍:       4.5nH ～ 140mH

　　電容直接測量范圍:   1 ～ 200pF

　　主電容調節范圍:     18 ～ 220pF

　　主電容調節準確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

　　信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz

　　頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

　　頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個字

　　夾具工作特性

　　1.平板電容器：

　　極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

　　極片間距可調范圍：≥15mm

　　2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

　　3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

　　4.測微桿分辨率：0.001mm

      標準配置：

適用單位：

可以用于科研機關，學校，例如一些科研院所，大專院校或計量測試部門的實驗室需要用介電常數儀對絕緣材料的介質損耗角正切及介電常數進行測試；北京航天易達檢測儀器同時也適用于工廠或單位，例如一些工廠對無機非金屬新材料性能的應用進行研究，另外在電力、電工、化工等領域，如：電廠、電業局實驗所、變壓器廠、電容器廠、絕緣材料廠、煉油廠等單位對固體及液體絕緣材料的介質損耗和相對介電常數ε的質量檢測等等。