切割樣品缺陷評(píng)估裝置 朝日測(cè)器 ALTIS-RP

切割樣品缺陷評(píng)估裝置 朝日測(cè)器 ALTIS-RP

產(chǎn)品介紹：

使用分辨率為 15 μm 的缺陷圖可以輕松校準(zhǔn)和驗(yàn)證切割樣品的表面缺陷的評(píng)估和檢查。

它可以作為離線表面缺陷校準(zhǔn)的專家設(shè)備，這對(duì)于質(zhì)量評(píng)估至關(guān)重要。

該設(shè)備是必須由用戶安裝和連接的設(shè)備。只需
將檢測(cè)設(shè)備和 PC 放置在水平桌面上，并
用兩根電纜連接檢測(cè)設(shè)備和 PC 即可完成安裝。

采用光轉(zhuǎn)換相機(jī)鏈路延長(zhǎng)器方法，可以使用單根光纖連接探測(cè)器和信號(hào)處理。

配備數(shù)字高性能計(jì)算單元，還可以檢測(cè)僅限于目視檢查的缺陷。

二維數(shù)字計(jì)算功能提供目視檢查的檢查能力。

這是將超高速攝像機(jī)、根據(jù)檢查對(duì)象的專用照明、高速數(shù)字運(yùn)算芯片、計(jì)算機(jī)等技術(shù)系統(tǒng)化而開(kāi)發(fā)的高精度、高速檢查系統(tǒng)。

檢查屏

掃描切割樣品并檢測(cè)缺陷。 測(cè)試結(jié)果可以在下面的四個(gè)屏幕上確認(rèn)。

檢查結(jié)果畫(huà)面（檢測(cè)圖顯示）

檢查結(jié)果畫(huà)面（原始圖像顯示）

檢查結(jié)果畫(huà)面（缺陷列表顯示）

檢查結(jié)果畫(huà)面（檢測(cè)圖像列表顯示）

信息管理畫(huà)面（結(jié)果數(shù)據(jù)列表）

您可以使用與測(cè)試時(shí)相同的屏幕配置來(lái)檢查過(guò)去測(cè)試的數(shù)據(jù)。
您可以從過(guò)去的測(cè)試結(jié)果中選擇任何數(shù)據(jù)，并將其以 CSV 格式保存到 USB 存儲(chǔ)器。

信息管理畫(huà)面（檢測(cè)圖顯示/原始圖像顯示/缺陷列表顯示/檢測(cè)圖像列表顯示）

您可以在與測(cè)試時(shí)相同的四個(gè)屏幕上檢查過(guò)去的測(cè)試結(jié)果。

濃度測(cè)量畫(huà)面

可以調(diào)出缺陷圖像的濃度測(cè)量屏幕。
在密度測(cè)量屏幕上，您可以分析缺陷的灰度等級(jí)和尺寸。

檢查條件設(shè)定畫(huà)面

最多可注冊(cè)100個(gè)品種。
可以為每種產(chǎn)品類型注冊(cè)檢測(cè)靈敏度和尺寸等各種設(shè)置。 開(kāi)始檢查時(shí)，只需選擇注冊(cè)的產(chǎn)品類型，就會(huì)設(shè)置適當(dāng)?shù)臋z查條件。

波形監(jiān)視器

*啟動(dòng)設(shè)備時(shí)，每個(gè)屏幕上顯示的語(yǔ)言可以從日語(yǔ)、韓語(yǔ)和英語(yǔ)中選擇。

可以使用波形監(jiān)視器功能來(lái)調(diào)整檢測(cè)器（攝像機(jī)/發(fā)射器）。

規(guī)格