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產品型號:iStar DH334T
產品介紹
Andor 的 iStar DH334T 快速門控增強型 CCD 系列旨在為高分辨率、納秒級時間分辨成像提供集成檢測解決方案。1024 x 1024 陣列非常適合各種時間分辨應用,包括等離子體分析、安裝到 Andor Mechelle 光譜儀時的 LIBS 或快速瞬態現象。
iStar DH334T 快速門控增強型 CCD 提供數 MHz 讀數,以及筆記本電腦友好的 USB 2.0 連接和集成的軟件控制的數字延遲發生器 (DDG)。只需按一下按鈕,即可無縫集成復雜的實驗,并通過單個交互式界面進行定時和增益控制。具有各種入口輸入窗口和熒光粉選項的第 2 代和第 3 代圖像增強器可滿足 120 nm 至 1100 nm 的波長范圍要求。
性能特點
l 高分辨率傳感器和圖像增強器 - 清晰的圖像和光譜定義,100% 的填充因子可實現更大的信號收集效率
l 光學門控 < 2 ns - 十億分之一秒的時間分辨率,用于準確的瞬態現象研究
l 5 MHz 讀出平臺 - 快速幀速率和頻譜速率,用于動態現象的表征。用于圖像數字化均勻性的單讀出放大器
l 超快讀出選項裁剪和快速動力學模式 - 可定制的分箱序列,以獲得高的光譜和圖像速率。大于 6,667 光譜/秒的連續速率,在突發模式下高達 55,250 光譜/秒。
l 高 QE 第 2 代和第 3 代圖像增強器 – 良好的光子捕獲,峰值 QE 高達 50%,光譜覆蓋范圍為 120 至 1,100 nm。
l 低抖動、板載數字延遲發生器 (DDG) - 更高的選通時序精度和更低的傳播延遲。軟件控制的 3x 觸發輸出,設置精度為 10 ps,用于復雜的實驗集成。
l 500 kHz 持續光電陰極選通 - 在基于激光的高重復率應用中更大化信噪比。
l TE 冷卻至 -40oC - 有效減少 CCD 暗電流和像素瑕疵。
l 光電陰極 EBI更小化 - 干氣吹掃接口可進一步有效降低 EBI。
l Intelligate- 智能且準確的 MCP 門控,可在 UV 中實現優于 1:108 的快門效率。
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