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池田屋實業(yè)（深圳）有限公司
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原廠進口INTECS英特斯 晶圓截面形狀測定裝置燈 WEMS
| 參考價: | ￥ 35650 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 原廠進口 產(chǎn)品型號
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- 深圳市 所在地
訪問次數(shù)：166更新時間：2024-09-23 23:57:42
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- 韓政
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- 網(wǎng)址：
- www.ikedaya.cn/
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產(chǎn)品簡介
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,建材,電子,電氣 | 訂貨號 | 176.0755.4908 |
|---|
高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工
。
產(chǎn)品介紹
INTECS英特斯 晶圓截面形狀測定裝置燈 WEMS
INTECS英特斯 晶圓截面形狀測定裝置燈 WEMS
對于使用舊 VSSW 的客戶來說是個好消息！ ！
使用攝像管型半導體晶片截面形狀測量裝置（VSSW）的客戶的福音！ ！
我們已經(jīng)啟動了一項服務(wù)，通過重復使用外部金屬板和更換內(nèi)部電氣元件來提供與最新系統(tǒng)類似的功能。 價格比購買新產(chǎn)品便宜。
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概述
該設(shè)備可無損測量半導體晶片的橫截面尺寸，并且可以測量邊緣尺寸、角度和半徑。 可測量的晶圓尺寸約為2至12英寸，晶圓更換工作很容易
視頻縮放器規(guī)格 視頻縮放器使用說明書
設(shè)備規(guī)格
測量范圍
厚度約2000μm（*1） 深度約1500μm
展示19英寸液晶顯示屏有效顯示像素數(shù)768×494數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)SD內(nèi)存操作方法操縱桿、開關(guān)測量功能尺寸、角度、半徑判斷方法專用參考圖案印刷方式打印機（*可選）使用環(huán)境
環(huán)境溫度：10℃～30℃，
濕度：80%以下，無凝露環(huán)境
。無強磁、強振動、無灰塵的環(huán)境。
電源AC100V±10% 50/60Hz 150W（不含打印機）
*1 如果尺寸接近尺寸，測量對象和測量結(jié)果會出現(xiàn)重疊的區(qū)域。
各種功能
尺寸測量通過兩個測量點，可以測量兩點之間的垂直和水平尺寸（倒角深度、倒角）。角度測量可以通過兩個測量點來測量倒角角度。半徑測量通過三個測量點，可以測量連接這三個點的圓的半徑。批量測量通過四個測量點，可以測量左倒角深度、右倒角深度、左倒角、右倒角總厚度、剩余倒角厚度、左倒角角度和右倒角角度。
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