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當前位置：> 供求商機> 可測低反射膜硅等的厚度膜厚測厚儀
紅外透射膜厚度監測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應用于從實驗室級別到生產過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學系統，可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀，準確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數。
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由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
它可以安裝在設備或生產線的狹小空間內。
此外，由于探頭僅通過
光纖連接到主機，因此具有出色的耐環境性。
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可實現短至 1 毫秒的高速采樣。
可以在生產線上進行實時檢測和測量。
由于干涉濾光片不旋轉，因此具有出色的耐用性和可靠性。
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| 測量算法 | 校準樣品 | 測量目標 |
|---|---|---|
| Beer-Lambert 法 | 1 種 | 僅厚度 |
| 最小二乘回歸 | 2 種或更多類型 | 倍數（厚度、密度、特定成分的混合量等） |
可以同時測量厚度和涂層重量。
可以測量硅襯底上黑色光刻膠的薄膜厚度，而使用反射光譜法使用光學干涉涂層測厚儀很難做到這一點
。
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