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紅外透射膜厚度監(jiān)測(cè)器可測(cè)量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。它是一種紅外吸收涂層測(cè)厚儀，可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室級(jí)別到生產(chǎn)過(guò)程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測(cè)厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過(guò)同時(shí)測(cè)量 100 多個(gè)波長(zhǎng)的光譜儀，準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度、密度、成分等多個(gè)參數(shù)。

1
測(cè)量半透明片材、
低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測(cè)量法中是困難的

2
微型光纖探頭
由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。
此外，由于探頭僅通過(guò)
光纖連接到主機(jī)，因此具有出色的耐環(huán)境性。

3
高速測(cè)量：
在
100 個(gè)點(diǎn)或更高處同時(shí)采樣 950~1650 nm 的近紅外波長(zhǎng)
可實(shí)現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。
可以在生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)和測(cè)量。
由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn)，因此具有出色的耐用性和可靠性。

4
厚度測(cè)量重復(fù)性：0.1% 或更低（3σ）

5
兩種可選的測(cè)量算法
測(cè)量算法校準(zhǔn)樣品測(cè)量目標(biāo)
Beer-Lambert 法 1 種僅厚度
最小二乘回歸 2 種或更多類型倍數(shù)（厚度、密度、特定成分的混合量等）

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長(zhǎng)處

測(cè)量半透明片材、
低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測(cè)量法中是困難的

微型光纖探頭

高速測(cè)量：
在
100 個(gè)點(diǎn)或更高處同時(shí)采樣 950~1650 nm 的近紅外波長(zhǎng)

厚度測(cè)量重復(fù)性：0.1% 或更低（3σ）

兩種可選的測(cè)量算法

測(cè)量示例（鋰離子電池隔膜）

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提示

測(cè)量算法	校準(zhǔn)樣品	測(cè)量目標(biāo)
Beer-Lambert 法	1 種	僅厚度
最小二乘回歸	2 種或更多類型	倍數(shù)（厚度、密度、特定成分的混合量等）