Belec IN-SPECT是用于金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀。
臺式儀器以壓縮的方式將復雜的實驗室儀器的大部分功能結合在一起。
德國belec “貝萊克” 是一家專門生產光發射直讀光譜儀的公司，采用*穩定性、準確性及重復性的 “光電倍增管” 檢測系統，光學系統為帕邢-龍格裝置雙光譜室，羅蘭圓直徑300-500mm，可選用波長由120-800nm，光柵為3600線/毫米，火花探頭采用低損耗烏電極，在同一系統上可升級到11個基體及108個通道，可檢測的金屬基體包括鋼鐵、鑄鐵、工具鋼、銅、鋁、鎳、鈦、鈷等。
按照特殊的多基體應用，可提供CCD感光系統的高性價比光譜儀。
產品功能
•新5GSO系統提高整體分析效能（第5代光譜儀光學系統）
•新的探測器，*展現在光譜學的應用
•結構緊湊
•服務和操作方面人性化設計
•低檢測下限-精度
•易于操作的Belec Win 21軟件
•開放式火花臺
•富有吸引力的設計
•專業人員的安裝和指導
Belec IN-SPECT—應用
是富有吸引力的中小企業的伙伴
Belec IN-SPECT是所有中小型企業具有吸引力的合作伙伴。 標準配置的惰性氣體流動的光學光譜室，和對分析要求的不斷優化使得設備富有吸引力。同時，Belec IN-SPECT為用戶提供了高性能和準確性。
連同其它配件一起，設備顯示了一個真正的分析單元，取代傳統的笨重而龐大的系統。
集成光譜儀，包含5GSO系統，由BELEC工程師設計，可以在任何類型的光譜線同時應用時也不會出現相互的干擾。
從現在開始，每日的校正程序已經成為歷史，新的MCDC系統（多信道漂移校正）可以自動實現，一次漂移校正可以在幾個星期內保持良好的結果。
小巧且美觀
Belec IN-SPECT 適用于實驗室操作。所需空間小，使得可以將儀器放置在幾乎任何可能的位置。
光學
•帕刑-龍格裝置光譜室
•羅蘭圓直徑300mm
•可用波長145-410 nm
•光柵，3600線/ mm
•色散率0.9 nm / mm（1次）
•耐沖擊
•恒溫探測器配備波長入射窗口（US許可）
•集成噪聲補償
•寬7μ像素優化線分離
•一個基體模塊*校正，延伸到幾乎無限的額外基體模塊
•無限數量的元素信道
•惰性氣體光譜室帶凈化系統
•可選配置為：真空光譜室代替惰性氣體交換光譜室
光源
•火花發生器的最大頻率400 Hz
•單極放電
•通過軟件控制預火花參數和集成數據參數
•通過軟件控制點火頻率程序
•通過軟件控制放電功率程序
•點火電壓20 kV
測量臺
•為分析的氬氣流測量臺
•火花測量臺上帶Ø10mm分析口，可選帶Ø4mm分析口的陶瓷或金屬墊片
•可配合線材、管材和小零件的適配器使用
•低損鎢電極
•氣動試樣夾具
•氬氣流量待機時0.1 l / min，分析時2 l / min
•免維護
電子器件
•10個探測器，每個3648像素，寬7μ像素
•溫度穩定，到0.1°C
•每個探測器都有獨立的AD轉換器，安裝在多通道板上，以高速通用USB端口連接
•集成噪聲抑制 - 集成背景補償
•無限數量的測量信道，可配置多個基體
尺寸
•寬30.5英寸（775毫米）
•高14.9英寸（380毫米）
•深度23.6英寸（600毫米）附加6.1英寸（155毫米）的火花臺
重量
•分析單元152.1磅 （69kg）附加顯示器和鍵盤
電源
•230V / 50Hz或110V / 60Hz
•100 W待機時
•600 W分析時
真空系統電源（可選）
•600 W待機時
•1100W分析時
計算機硬件
•系統集成工業計算機系統
•Intel®Core®Duo T7400（2.16 GHz，4MBL2）
•2 GB DDR2 SD RAM內存
•2.5“硬盤最少60 GB
•19“彩色顯示器，其他尺寸也可用
•全尺寸外接鍵盤
•USB 2.0端口
•以太網接口
軟件
通用操作系統，例如MS Windows 7
•遠程服務系統（RSS）
•每次測量都會顯示分析值
•可以根據客戶要求設計不同分析程序
•每個分析程序都有獨立的分析參數
•自動選擇程序（APF）
•分析計算：背景修正，曲線位置修正，乘和加相互修正
•以標準類型進行自動修正（類型校準）
•容易同時進行多個程序的重校正（BGR）
•混料分選通過與參考工件的測量數據進行比較
•牌號分析是與預設的牌號范圍進行比較
•類型校正和類型測量
•每個分析程序在相對和含量的公差，可調整
•可選測量結果的平均和標準偏差
•當數據超過校正曲線時，會有報警信號
•輕松的同時重新校準幾個程序
•通過使用MCDC（多信道漂移校正）延長重校正所需的周期
•自動提示定期重校正
•自動顯示牌號或物料號
•合金號數據庫可達100.000個或以上（取決于計算機存儲量）
•顯示器上文字的大小可變，以達到清晰度
•自動存儲功能
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