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SU8220/8230/8240-日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列
【產品簡介】
【詳細說明】
【Hitachi】日立新型場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列(SU8220,SU8230,SU8240)
儀器簡介:
SU8200 系列冷場掃描是日立高新經過多年潛心鉆研,巨額投入而研發出來的新一代革新性冷場電鏡,其不僅*秉承以往冷場發射掃描電鏡全部優點,還大幅提高了探針電流,并極大增強了電流的穩定性。這些優點使得在低加速電壓下,可長時間連續實現高分辨觀察和分析功能。此系列掃描電鏡在*秉承以往冷場發射掃描電鏡全部優點的同時,將探針電流進行了大幅提高,電流穩定性得到了極大增強,同時避免了燈絲Flash 后的采圖等待時間,可以說其彌補了以往冷場電鏡的所有弱勢,成為一款真正的超高分辨分析型冷場掃描電鏡,上演了一部現實版的*歸來!
日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列主要特點:
日立高新新研發的冷場電子槍
1.利用電子槍轟擊后的高亮度穩定期,束流更大更穩定,高分辨觀察和分析兼顧
2.大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)
3.減輕污染的高真空樣品倉
4.通過頂部過濾器(選配項)實現多種材料對比度可視化
日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列技術參數:
日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列應用領域:
1、 納米材料;
2、 半導體器件;
3、 高分子材料;
4、 生物醫學;
5、 新能源;
樣品:介孔二氧化硅納米球;著陸電壓:500 V
樣品:高嶺土;著陸電壓:50V
樣品:Au/Cu2O 核-殼納米立方體;EDX圖譜條件:5 kV, 0.7 nA, 15 min, 150,000×
(Top filter off) (Top filter on)
樣品:鋰離子電池正極材料(同一觀察視野);觀察條件:1KV