目錄:賽默飛色譜及質譜>>痕量元素分析產(chǎn)品>> ELEMENT2/XR賽默飛電感耦合等離子體質譜儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 磁質譜 | 應用領域 | 環(huán)保,食品,農(nóng)業(yè) |
賽默飛電感耦合等離子體質譜儀ELEMENT2/XR可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；并能與多種進樣和分離技術聯(lián)用，例如激光進樣。目前，已經(jīng)安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺，服務于環(huán)境監(jiān)測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。
賽默飛電感耦合等離子體質譜儀ELEMENT2/XR是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術。 其應用范圍從半導體工業(yè)到地質和環(huán)保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質。 高質量分辨率是識別和消除干擾的標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
ELEMENT XR主要特點：
ELEMENT 2主要特點：
2、全自動的常規(guī)分析
3、具有靈活性和易用性的先進研究工具
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