目錄:聚光科技(杭州)股份有限公司>>環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器>>大氣環(huán)境>> SUPEC 2050半導(dǎo)體AMC綜合監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
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更新時(shí)間:2024-06-19 14:22:37瀏覽次數(shù):271評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
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SUPEC 2050半導(dǎo)體AMC綜合監(jiān)測(cè)系統(tǒng)由采樣預(yù)處理子系統(tǒng)、氣體監(jiān)測(cè)子系統(tǒng)以及輔助設(shè)備和數(shù)據(jù)采集與處理子系統(tǒng)等構(gòu)成,如下圖所示。
采樣預(yù)處理子系統(tǒng)由多路樣氣傳輸管、采樣泵和分布式多通道采樣儀組成,可以對(duì)多個(gè)點(diǎn)位進(jìn)行不間斷實(shí)時(shí)采樣,并通過管路切換實(shí)現(xiàn)不同采樣點(diǎn)樣氣的循環(huán)監(jiān)測(cè)。應(yīng)用領(lǐng)域
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