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光譜儀器是進(jìn)行光譜研究和物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析，光譜分析儀是一種用于測(cè)量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器，也是科學(xué)研究和產(chǎn)品開發(fā)中的常用儀器。
光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量，它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強(qiáng)度，I0為發(fā)射光強(qiáng)度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
佐明提供的光譜分析儀采用的雙通過單色儀設(shè)計(jì)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)用快速掃描時(shí)間同時(shí)得到高靈敏度和大的動(dòng)態(tài)范圍。這種性能對(duì)于表征DWDM部件和多路系統(tǒng)特性很重要，尤其在生產(chǎn)制造環(huán)境中，速度、準(zhǔn)確度和生產(chǎn)能力是十分關(guān)鍵的因素。
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