納米粒度檢測的幾種技術介紹

來源：德國新帕泰克有限公司 2022年02月17日 17:21

1、動態(tài)光散射DLS技術

動態(tài)光散射(DLS)，是分析納米和亞微米領域的粒度大小與分布常用的方法。

根據(jù)Stokes-Einstein理論，顆粒的擴散受溶液粘度、溫度和粒徑的影響。舉例來說，在粘度和溫度一定時，小顆粒運動快，大顆粒運動慢。

DLS法檢測粒度（也就是水力學粒徑）是通過探測顆粒在液體中布朗運動的光學信號來分析的。

2、傳統(tǒng)光子相關光譜PCS技術

大部分的DLS原理是通過PCS方法實現(xiàn)的。單激光束入射到樣品中，顆粒將入射光散射到各個角度，隨后由一個光檢測器收集一定角度上的散射光強。

傳統(tǒng)的PCS理論只能針對單散射有效。也就是說每個光子只能被顆粒散射一次。任何多重散射光強的加入都會導致錯誤的結果。

當樣品濃度較高時，發(fā)生多重散射的機率增加，因此往往需要經(jīng)過高倍稀釋后才能進行粒徑檢測。

3、創(chuàng)新光子交叉相關光譜PCCS技術

結合雙光束、雙探測器的設計，在分析高濃度的納米顆粒樣品時，雙探測器得到2組獨立的散射信號，再進行交叉相關運算處理，可以有效消除多重散射的影響，因此檢測結果不受濃度高低的影響，樣品無需稀釋也可得到、穩(wěn)定的粒徑測試結果。

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