鍍層測厚儀測厚方法有哪幾種
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。
珠海天創(chuàng)儀器代理銷售國內(nèi)外超聲探傷產(chǎn)品:超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、各種配件、超聲波探頭、耦合劑等
涂裝系列產(chǎn)品:涂層測厚儀、噴涂表面檢測、片材測試、物料測試、耐腐蝕測試等
磁粉探傷產(chǎn)品:便攜式交直流磁軛、熒光磁粉、普通磁粉,各種紫外線燈、紫外線照度計等
環(huán)保系列產(chǎn)品:溫濕度計、風速計、噪音計、環(huán)境檢測儀器、各種氣體檢測儀、氣體分析儀等
建筑檢測產(chǎn)品:鋼筋探測儀、混凝土保護層測厚儀、激光測距儀、水準儀、經(jīng)緯儀、全站儀等
光測量計系列:分光輻射亮度計、色彩亮度計、色彩分析計、光譜儀等
測色儀器系列:分光測色計、色差計、色彩管理軟件、光澤度計等
電子電工產(chǎn)品:示波器、萬用表、鉗形表、相序表、電力檢測儀器等
相關產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的,應在授權范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關權利。