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橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量儀器。
這次帶來了bruker的FilmTek 6000 PAR-SE、FilmTek 2000M TSV、FilmTek CD、FilmTek 2000 PAR-SE四個型號。
Bruker橢偏儀可以滿足多種前沿器件制造技術相關的需求。可獨立測量薄膜厚度和折射率，顯著提高其對薄膜變化的靈敏度，尤其是多層堆疊中的變化。
而且應用領域廣泛，可應用于半導體、微電子、MEMS、通訊、數據存儲、光學鍍膜、平板顯示器、科學研究、物理、化學、生物、醫藥等等多種范圍。
因為具有快速、實時優化功能的專有衍射軟件。，可以輕松修改以滿足研發和生產環境中的客戶需求。
Bruker橢偏儀在上海爾迪儀器科技有限公司有售，有需要可聯系我司。
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