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開封, 即開蓋/開帽, 指去除ic封膠, 同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準備。
基本原理
芯片激光開封機的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑封外殼，從而光學觀測或者電氣性能測試提供了可能性，以便于實現X射線等無損檢測無法實現的功能。
激光開封技術也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下，去除局部的塑封材料，進行測試甚至修復實驗。與化學開封技術相比，激光開封更加高效，同時避免了減少強酸環境暴露。
關鍵技術參數描述
計算機系統：Advantech高穩定性工業計算機，正版Win10操作系統
視覺系統：樣品觀測與開封控制一體化設計（非單獨外加顯示用于觀測）
相機參數：2000萬像素彩色工業相機+自動光源系統（由計算機軟件控制亮度）
相機視場（FOV）：30*30mm~70*70mm （規格出廠前可選）
聚焦控制：定制精密伺服Z軸系統，焦點電動控制，一鍵紅光預覽
粉塵過濾系統：FILASER 定制
立式機柜：精密鈑金+精密五金
軟件特點
專業開封控制軟件，具有軟件著作權。
功能強大，界面簡潔，易學易用，傻瓜式開封圖形繪制。
中心和任意位置畫圖操作（方形，圓形，線性，方形框，圓形框等）。
可打印中英文字體，同軸 CCD 視覺定位功能，“所見即所得，指哪開哪"。
可導入 X-ray 圖像定位，無需貼圖和調整圖片透明度比對，直接在導入的圖像上畫圖，幾秒之內完成定位。
終身mian費升級，若有特殊需求，可提供定制化開發。
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