植物冠層圖像分析儀可測量：葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射(PAR)等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業(yè)科研工作。

葉面積指數(shù)（LAI）與植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)是在生態(tài)學與氣候學中是重要的生物物理參數(shù)。這些參數(shù)在生態(tài)學及氣候學領域中有著廣泛的應用。TRAC植物冠層分析儀采用的創(chuàng)新技術，在冠層下方沿著橫斷面測定植物冠層吸收的光合有效輻射分量，然后將之轉換為林隙比例分布，從而計算出葉面積指數(shù)等其它參數(shù)。

1.無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結構

2.探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結構。

3.攝像頭可自動保持水平。

4.USB接口，測量時連接電腦實時查看圖像，即時選取所需圖像并保存。

5.外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量。

6.測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

7.配有專用分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))，可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區(qū)域進行分析，使測量數(shù)據(jù)更加精確。