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技術指標
相對孔徑：D/F=1：2
小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
狹 縫 寬：0.05，0.15mm
儀器重量：2KG
粗調升降：70mm
微調升降：15mm
移 動 量：縱向橫向各15mm
讀 書 值：0.01mm
使用范圍
1.1 在光學冷加工中用于檢驗球面和非球面的質量；
1.2 測定光學零件或光學系統的像差，如球差、像散等；
1.3 測定凹球面的曲率半徑；檢驗光學材料中的缺陷，如如玻璃材料的條紋，不均勻性等；
1.4 加上輔助設備可檢查拋物面等非球面，
1.5 光學系統的檢驗和裝配中，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面（常用于鏡面誤差檢測）特別適用于天文望遠鏡上大反射鏡鏡面的檢驗,精度可達 /50，甚至 /100（ 為檢驗用的光源的平均波長）。
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