產品關鍵詞:多通道電致器件穩定性測試、多通道電致器件壽命測試、電致發光、IVL、電致發光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發光量子產率測量系統、多通道、電致發光器件老化系統、光譜功率分布( λ)、光譜功率分布( λ)、光通量、相關色溫(CCT)、顯色指數(CRI)、電功率密度
多通道電致發光特性測量系統EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發光特性測量平臺中的重要成員,與東譜科技的電致發光特性測量系統 HiYield 共同為行業提供了完善的電致發光的測量方案。該系統由一系列相應的分布測量組件組成,包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性,可以靈活搭建適用于不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量,且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能,從而可以適應豐富的測量場景,如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。
EL-Lab可實現多通道批量測量;可放進手套箱內測試;支持長時間的多個器件的老化測試; 支持寬溫度范圍的變溫測試;全面的電致發光測量參數等特點。
EL-Lab測試功能包括發光效率參數:外量子效率、電流效率、功率效率等;電學參數:電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率密度等; 輻射度學參數: 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等 ;光度學參數:亮度、光通量等;色度學參數: CIE 色度坐標、相關色溫(CCT)、MK-1、顯色指數等 ;器件老化參數:不同老化時間下的上述參數;變溫測量等;多通道電致器件穩定性測試、多通道電致器件壽命測試、電致發光、IVL、電致發光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發光量子產率測量系統等。
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