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XRF光譜分析儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。可以執行快速且準確的完整無損分析，并可用于測試多種元素。可通過該技術快速獲知樣品中存在的具體元素，并利用校準得知元素的具體占比。
XRF光譜分析儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。激發源產生入射X射線(一次X射線)，這些射線照射到被測樣品上，與樣品中的原子發生相互作用，使得樣品產生荷電粒子和X射線的散射輻射(二次X射線)。探測器對產生的X熒光(二次X射線)進行檢測，測量其能量和數量。儀器軟件將探測系統收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
該設備測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，可以在數秒到幾分鐘內完成樣品中全部待測元素的測定。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象，因此同一試樣可反復多次測量。
本公司提供的xSORT XRF光譜分析儀具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復雜材料的光譜化學成分分析需要。
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