單晶圓清洗法中涉及的化學方程式主要與所使用的清洗劑和被去除的污染物有關。以下是一些常見的化學方程式：

氨水/過氧化氫混合液（APM）反應：

在SC1清洗液（APM）中，氨水（NH4OH）和過氧化氫（H2O2）發生反應，用于去除有機污染物和顆粒。其反應方程式可能較為復雜，但主要包括氧化還原反應，其中過氧化氫作為氧化劑，氨水提供堿性環境并參與反應。

稀氫氟酸（HF）反應：

在清洗過程中，可能會使用稀氫氟酸來蝕刻氧化硅，同時清除顆粒和金屬污染物。氫氟酸與二氧化硅的反應方程式為： SiO2 + 4HF → SiF4 + 2H2O 這個反應表明氫氟酸能夠與二氧化硅反應生成四氟化硅和水，從而實現對氧化層的去除。

硫酸/過氧化氫混合液（SPM）反應：

SPM清洗液是硫酸、過氧化氫和水的混合物，主要用于去除有機物和部分金屬污染物。其反應方程式同樣復雜，但主要涉及氧化還原反應，其中過氧化氫作為氧化劑，硫酸提供酸性環境并參與反應。

請注意，以上化學方程式僅代表單晶圓清洗過程中可能發生的部分化學反應。實際的清洗過程可能涉及更多種類的化學物質和更復雜的反應機制。此外，由于化學反應的條件（如溫度、濃度、時間等）對反應結果有重要影響，因此在實際應用中需要嚴格控制這些條件以確保清洗效果。