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AF-220E精密電子分析天平日本新光AF-220E精密電子分析天平

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深圳市新朗普電子科技有限公司
2017-07-19 17:10:23
1201

【簡單介紹】

日本新光AF-220E精密電子分析天平：量程220g,精度0.1mg，稱盤尺寸為∮80mm，具自動偵測零點、水平位置及溫度功能，以確保秤重準確；特殊拉門設計,多種開關選擇；

【詳細說明】

日本新光AF-220E精密電子分析天平

AF-220E精密電子分析天平日本新光

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常備現貨

產品說明：

● 具自動偵測零點、水平位置及溫度功能，以確保秤重準確；

● 特殊拉門設計,多種開關選擇

1. 防風罩兩側也拉門式設計, 皆可開、關（一手拿秤物時, 另一手可以拉開防風罩, 非常方便）；

2. 防風罩及秤盤都是組合式, 可拆卸；

3. 玻璃內面, 秤盤計量皿皆可以清潔；

4. 沒軌道的設計,不易留灰塵或粉末；

型號	AF-220E	AF-R220E
量程	220g
精度	0.0001g
秤盤尺寸（mm	∮80mm
體積WDH（mm）	320210335mm
電源	AC120/230V DC9V
輸出方式	RS-232C
重量	5.2kg	5.5kg

附加：AF-（R）內藏校正砝碼，具有自動校正功能，「CAL」鍵ONE TOUCH自動校正，接上印表機即可列印校正紀錄及SPAN TEST, 可顯示日期、時間等。亦可保存歷史紀錄。


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