由愛斯佩儀器網供應SGW-15J測量顯微鏡*，面向全國供貨，所有產品均按國家規定銷售，口碑相傳的愛斯佩儀器竭誠為您提供全新的實驗操作體驗。
測量顯微鏡技術參數:
光學系統規格
| 物鏡 | 目鏡 | 顯微鏡 | 工作 距離 | 視場 直徑 | ||
| 放大倍數 | 焦距 | 放大倍數 | 焦距 | 放大倍數 | ||
| 2.5×/0.08 | 43.40 | 10× | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
| 10×/0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.6 | ||
X軸遇到測量范圍50nm
Y軸遇到測量范圍13nm
測量器分度值：0.01nm
測量臺轉動范圍不限：NO limit
測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤游標讀數示值：6’
測量精度：
儀器示值誤差：± （4+L/15）μ m
儀器示值誤差：包括測量誤差和系統誤差
注：測量地點溫度變化20℃ ±3℃，L--被測件長度
行業應用補充說明：
，采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。特別適用于錄象磁頭、大規模集成電路線寬以及其它精密零件的測試。廣泛地適用于計量室、生產作業線及科學研究等部門。工作臺除作X、Y坐標的移動外，還可以作360?；的旋轉，亦可以進行高度方向做Z坐標的測量；采用雙筒目鏡觀察。照明系統除作透、反射照明外還可以作斜光線照明。儀器進一步可連接CCD電視攝像頭，作工件的輪廓放大；亦可連接計算機進行數據處理等測量。
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