激發方式 | 火花 | 價格區間 | 面議 |
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檢測器類 | 電荷耦合元件(CCD) | 儀器種類 | 臺式 |
產品簡介
詳細介紹
光電直讀光譜分析儀定量分析,一般都用內標法。但在火花直讀光譜分析儀分析時,要安裝許多內標元素通道是很困難的,因此采用同一內標線。分析時常以樣品中的基體作為內標元素。所以內標線即為基體元素的一條譜線。當激發光源有波動時,組成分析線對的兩條譜線的強度雖然有變化,但強度比或相對強度能保持不變。如以R表示強度比,即:
R=I/I0
I表示分析線的強度,Io為內標線的強度,表明I及I。同時變化,R則不受影響。
2、三標準試樣法
三標準試樣法的特點是做工作曲線的標準樣品和分析樣品,都是在選定好的工作條件下進行的。
(1)工作步驟。
① 選擇三個或三個以上的標準樣品。
②在選擇好的光源激發條件下,激發每個標準樣品二次。
③記錄激發二次所得分析元素的電壓計數值R。對每個樣品得平均值。
④標樣強度為橫坐標,含量C%為縱坐標,做工作曲線。
⑤由分析樣品的平均值強度,從工作曲線上查對應的含量C值。
(2)優缺點
這個方法的優點是,同時激發,同時測光。分析條件容易保持*,所以分析誤差較小,但其缺點是費時,速度慢。而且每次都要研磨標樣。
3、控制試樣法
光源激發條件事實上是有變化的,即使每次經過予燃以后仍如此??刂圃嚇臃ㄖ饕褪怯脕頇z查光源激發的變化以及用來校正光源激發不穩定而引起的分析結果的偏差。控制樣品本身從某種意義上講就是一個標準樣品,它的化學成分和狀態更接近生產實際,可通過控制樣品結果的變化,從而檢查工作曲線有無移動。應用控制樣品的目的是作快速分析,分析時,只激發一個控制樣品即完成了分析任務。因為日常分析時控制樣品和分析樣品是在同一時間內進行的,每個樣品激發二次,所得分析結果的變化,應該彼此相似??梢詼p少控制標樣和分析樣品性質狀態的不*所引起的第三元素影響或者組織結構的影響,使分析結果不準。這些影響往往只使工作曲線產生一些移動。
遇到下列三種情況時,都可以用控制試樣法進行。
(1)以二元合金標樣作出工作曲線做復雜合金分析時。
(2)以熱軋狀態的標樣做同一牌號的合金的澆鑄狀態的分析任務。
(3)各種牌號的合金歸類用同一組標準樣品作出的工作曲線進行分析。
由于控制試樣法在日常分析中,用途很廣,因此使用控制試樣法應該注意以下問題。
①控制樣品的含量與分析樣品含量愈接近愈好。
②控制試樣的鋼種和牌號與分析樣品接近,物理的及化學的性質與分析樣品相同。
③控制試樣要有準確的分析結果,光譜的均勻性檢驗要好,分析結果的再現性要好。
火花直讀光譜OES1000分析儀參數規格
分光室設計:帕邢-龍格裝置,1米焦距;根據測試需求分為真空型、非真空型兩種;特殊材質鑄造,保證腔室形變小
*多安裝通道:32
凹面光柵:刻線密度2160gr/mm,曲率半徑998.8mm;逆線色散率0.47nm/mm,波長范圍170-463mm
狹縫寬度:入射狹縫20μm;出射狹縫35-75μm
光電倍增管:10級側窗型,熔融石英或玻璃外殼
分辨率:依出射譜線波長和級次而不同
分析時間:依樣品種類而不同,一般少于50秒
激發光源:高壓火花放電,放電頻率200或400Hz,電極間距3-4mm
測光方式:分段積分法
控制系統:采用FPGA技術控制儀器工作狀態
火花直讀光譜OES1000分析儀參數規格
分光室設計:帕邢-龍格裝置,1米焦距;根據測試需求分為真空型、非真空型兩種;特殊材質鑄造,保證腔室形變小
*多安裝通道:32
凹面光柵:刻線密度2160gr/mm,曲率半徑998.8mm;逆線色散率0.47nm/mm,波長范圍170-463mm
狹縫寬度:入射狹縫20μm;出射狹縫35-75μm
光電倍增管:10級側窗型,熔融石英或玻璃外殼
分辨率:依出射譜線波長和級次而不同
分析時間:依樣品種類而不同,一般少于50秒
激發光源:高壓火花放電,放電頻率200或400Hz,電極間距3-4mm
測光方式:分段積分法
控制系統:采用FPGA技術控制儀器工作狀態
配件
分析通道8個
分析軟件OES1000
測量控制箱
高壓火花電源箱
恒溫、真空系統
直聯旋片式真空泵
1kVA交流凈化電源
電腦
打印機
主要優點
儀器全年工作,具有優異的穩定性和可靠性
可在約50秒內同時分析32個通道
單一分光室,方便保養、維護
原廠分析程序,可校正集體效應和譜線干擾
使用認證標樣來標定和標準化工作曲線,保證分析的準確度
光源設計緊湊,有效降低電磁干擾,改善儀器穩定性
高質量的真空光學系統
高質量的恒溫和防震性能
產品簡介
OES1000光電直讀光譜分析儀作為鋼鐵及有色金屬產品的元素分析儀器,以其快速、精確、穩定可靠性,使之成為生產優質金屬產品的*工具。滿足鋼鐵及有色金屬工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面要求。