一、產品介紹
MX4R導電粒子顯微鏡采用靈活的系統組合、的成像性能、穩定的系統結構，MX4R系列專業應用于工業檢測及金相分析領域，各操作機構根據人機工程學設計，大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設計，可對系統功能進行自由組合。集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據實際應用，進行功能選擇。全新采用半復消技術，集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察模式下都能呈現清晰銳利的顯微圖像，可根據實際應用，進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。

二、導電粒子顯微鏡性能特點

1）MX4R系列為新型FPD檢查顯微鏡，專為LCD行業 / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查

2）MX4R系列機型采用4寸、6寸平臺設計，可適用于相應尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查   

3）MX4R系列，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美 

4）MX4R系列機型采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術，采用長壽命LED光源

5）多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察

三、產品優勢
■ 采用無限遠色差校正光學系統；
■ 長工作距、明暗場兩用平場消色差物鏡，成像清晰、像面平坦；
■ 配備反射式柯拉照明系統，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明；
■ 正像三通觀察筒，30°傾斜，*的提高了觀察的舒適性與操作的適應性；
■ 配備了4寸帶離合器的機械平臺230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移動；
■ 良好的人機工程學設計，高剛性鏡筒，“Y”型底座，調焦機構采用前置式操作控制；
■ 光源采用寬電壓數字調光技術，具有光強調定與復位功能；
■ 可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應用領域；








四、可選配件
★ 可選配6英寸三層機械移動平臺，平臺面積445×240mm，行程158×158mm；玻璃載物臺板，透反兩用平臺；
★ 可選配標準微分干涉（DIC）裝置、OLYMPUS微分干涉（DIC）裝置。