目錄:上海塞普機電工程技術有限公司>>顆粒黑點儀>> SP-BS-1908SUNPLUS塑料顆粒黑點儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,能源,建材,制藥,綜合 |
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經(jīng)濟型SUNPLUS塑料顆粒黑點儀
顆粒表面的黑點是影響產(chǎn)品質量的重要原因。由于顆粒的外形不規(guī)則及透光度不同，顆粒的黑點檢測一直是技術難點。Sunplus利用專門設計的光學成像方法，推出批次靜態(tài)檢測方法，可以有效解決顆粒的黑點檢測難題。這種靜態(tài)黑點檢測法的優(yōu)點是批次操作，檢測準確， 還可以數(shù)顆粒的個數(shù)，從而獲得黑點顆粒比，為產(chǎn)品的質量評判提供有價值的參數(shù)。
SUNPLUS塑料顆粒黑點儀用途Application
按相關國家標準分析樹脂顆粒的雜質黑點的大小、數(shù)量，以及黑點顆粒占比。
適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。
也適用薄膜等透明體的黑點和內在疵點的檢測和分析。
技術指標Specifications
1.測量規(guī)格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標準，可在軟件界面選定。
2.最小檢測目標： 0.1mm
3.檢測精度： 小于0.025mm
4.檢測面積：不小于200×200mm
5.器皿大小：120mm×120mm凈面積，或定制
6.放大倍數(shù)：>20倍
7.光密度:不小于6000流明
8.光源要求: 24V/60W
9.供電電源：220V,50HZ
10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
儀器功能特點
1.測量黑點的大小和數(shù)量,以及黑點顆粒占比數(shù)。
2.可提供黑點，以及膜片質地紋路的分布圖譜。
3.黑點或膜片質地分布可放大和縮小。
4.被測目標可分類計數(shù)和統(tǒng)計。
5.按適用的標準自動生成檢測報告。
6.報告和圖譜可打印可儲存。
7.進樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。
8.顆粒以透明器皿為載體，批次檢測。
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