Overview
靜電是一種常見的物理現象，但它在工業(yè)和各種研發(fā)實驗室中卻很可能橫生枝節(jié)。材料的靜電充電在工業(yè)生產過程中會產生不利影響；靜電放電會損壞電子設備和組件；火花放電很容易點燃附近的易燃物質，導致嚴重事故…… 為了消除靜電荷及其相關的負面影響，整個世界花費了數百萬美元，人工更是不計其數。
在消除分析稱重過程中靜電的各種選項中，有低成本的簡單措施。但是，由于當前的計量和實際限制，這些措施許多難以實施、耗時且并非普遍適用。另一方面，有些方法不僅強大且節(jié)省空間，尤其是直接集成至天平時。
Download
本篇應用文章《靜電對分析稱重的影響》闡述了靜電基礎知識、靜電對稱重的直接影響、中和靜電電荷原理，以及Cubis® II實驗室天平是如何有效避免靜電電荷影響的。
點擊下載獲取全文
對稱重的直接影響
靜電可能對稱重過程本身或結果產生不利影響，因此需要通過耗時的材料選擇或材料處理程序來解決這些影響。在某些情況下，物料的稱量由于處理過程中靜電電荷的積聚而幾乎無法完成。另外，某些物料的靜電性能可能會隨著環(huán)境濕度的升高和降低而變化，從而更加難以稱重。
在以下情況下，物料可能會帶靜電
- 在固體中，當物料的表面電阻Rs> 10GΩ（根據IEC93）時
- 在液體中，電導率<10 nS/m
- 在不接地的導電材料中
中和靜電電荷
為消除靜電對稱重的影響，需確保樣品及其周圍區(qū)域無任何電荷。
方法一：
在天平防風罩的所有玻璃元件上使用*透明的導電涂層，使稱量室和稱盤免受靜電場的影響，效果良好。Cubis® II系列的所有玻璃防風罩都具有此重要功能。
方法二：
在天平附近使用電離器和除靜電筆。該解決方案的原理是通過離子轟擊進行表面中和。在大多數情況下，表面中和有助于消除天平外部環(huán)境中容器和樣品上的靜電電荷，減少電荷聚集非常有效。
電離器和除靜電筆
有時，在樣品和稱重盤之間放置一個物體就足以將作用力減小至對稱重結果無明顯影響的程度。此外，增強稱重盤的屏蔽效果也足以滿足某些應用的要求。為此，我們提供比標準稱重盤直徑更大的特殊稱重盤。
防靜電稱盤可更好地屏蔽樣品中的靜電電荷。該稱重盤設計成多孔圓盤，可以減輕重量，主要用于濾膜稱量材料。
下圖顯示了濾膜稱盤的特定天平示例，該天平使用法拉第籠（接地的金屬屏蔽層）解決靜電電荷問題。稱重時，稱盤和連接到稱盤的導電的防風罩蓋可*屏蔽濾膜。在汽車工業(yè)或環(huán)境機構中，該濾膜稱量天平通常用于測定排放物中的顆粒物。
Cubis® II微量天平配備特別防風罩F，用于尺寸高達90mm的濾膜稱盤。
避免靜電電荷影響的有用設備
通常，中和靜電電荷所需的時間取決于樣品的材料、表面和形狀，以及天平附近的相對濕度。新型Cubis® II天平提供Q-Stat靜電消除器，該靜電消除器集成在模塊化天平系列的防風罩I中，可在幾秒鐘內消除靜電電荷。
Cubis® II電動自動防風罩I包括一個帶有四個噴嘴的靜電消除器，可有效消除靜電電荷。
Cubis® II天平中的四個噴嘴可有效消除電荷。通過使用相反極性的噴嘴，稱盤區(qū)域會產生一種聚焦效應。這使得樣品容器和物質（例如粉末）中的靜電荷可在不干擾氣流的情況下高效中和，從而防止了稱重過程中靜電力造成的誤差。
此外，此型號的防風罩玻璃面板上的全透明導電層可在附近為天平提供額外保護，使其免受靜電場的影響。這也確保了穩(wěn)定正確的稱量結果不受靜電電荷的影響。
Cubis® II支持不同應用，其中消除靜電電荷對于稱量濾膜上的極少量顆粒物至關重要（此處使用專用支架YSH30，用于直徑高達150mm的濾膜）。
提供商 |
德國賽多利斯集團 | 下載次數 |
2次 |
資料大小 |
302.6KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數 |
752次 |
21
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務