657凹坑儀
儀器簡介:
657凹坑儀可以快速的實現樣品預減薄,同時顯著減少樣品損傷。凹坑研磨是通過快速可靠的研磨來移除材料,使TEM樣品接近電子透明度(有時可以達到電子透明度),從而顯著減少離子減薄時間和厚度不均現象。
快速制備 TEM 樣品。雖然機械磨削能夠快速降低材料厚度,但也會帶來不可接受的樣品損害,因此通常不適用于結束減薄階段。化學方法(特別是離子或快速原子)雖然帶來的損害相對較小,但減薄速度較慢且厚度不均,從而導致局部穿孔和薄區較小等問題。凹坑研磨儀可在 20 分鐘(針對硅)到 100 分鐘(針對藍寶石)內將直徑為 3 mm 樣品的中間區域厚度從典型的 100 μm 打薄至幾微米,同時將損傷控制在很低的水平。這樣就可以快速完成后續的化學或粒子束減薄,形成大面積的薄區。
進行研磨前,要使用低熔點熱塑性聚合物將樣品固定在托架上。提供的樣品座可適配 601 型超聲波沖裁機和 623 型凹坑研磨機,因此能夠在不拆卸樣品的情況下完成沖裁、研磨至 80 μm 的厚度,并凹坑減薄至 10 μm 以下的厚度。
單筒顯微鏡可用于樣品的校準和過程控制。將顯微鏡放置在凹坑研磨儀上時,反射照明會自動開啟,在開啟透射照明的情況下自動關閉。研磨液杯可用于盛放預先混合好的研磨液,并且帶有計時器,以用于較長的打磨步驟。
儀器優勢:
薄區面積大 :使用大磨輪和平磨輪,使加工后留有較大的薄區面積
樣品更堅固 :留出較厚的支撐邊緣來保護凹坑后的樣品
直接制備 TEM 樣品 :可形成厚度小于 3 μm 的凹坑樣品
準確的深度和厚度控制 :用戶定義的停止點和實時顯示可獲得準確的坑深度和厚度控制
微定位 :提供正交和相交軸,以便獲得更準確的定位
應用:
材料科學
自然資源
電子學
技術規格:
尺寸(寬 ×深 × 高) | |
(mm) | 340 ×260× 230 |
(in) | 13× 10 × 5 |
裝運重量 | |
(kg) | 15 |
(lb) | 34 |
電源要求 | 100 – 240 VAC, 50/60 Hz |
控件 | 工作臺旋轉 (I/0);磨輪旋轉 (I/0);折射 / 反射光; 磨輪轉速(可變);自動端接器 (I/0) ; 計時器(可變);千分尺歸零 ; 磨輪負載 (0 – 40 g) |
訂貨編號:LR-200637