目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>掃描電子顯微鏡>> ZEM15原位拉伸-掃描電鏡
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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產品描述
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。
△ 載荷范圍：0-1000N
△ 位移分辨率：20nm
△ 加熱模塊：可選
△ 加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲
△ 僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復雜步驟；亮度/對比度一鍵自適應，自動/手動聚焦;
△ 抽真空時間小于90秒；標配光學導航，搭配多樣品臺，實現快速找樣及切換樣品；
△ 信號采集帶寬10M，掃描速度快；視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；
△ 四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；
△ 國內生產、銷售、售后一體化服務；北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示；
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