美國Hinds Instruments 參考價：面議
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力...
應力雙折射 參考價：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds l...
光學玻璃應力測量 參考價：面議
光學玻璃應力測量占地小-大限度地減少設備所需的工廠空間；平臺設計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質量階段和硬件正常運行時間。
應力雙折射檢測 參考價：面議
在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片...
應力雙折射測量系統 參考價：面議
Hinds 儀器的應力雙折射測量系統Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產品的工作平臺。 該系統具有足夠的多樣性，在生產車間和研發...
穆勒矩陣測量系統 參考價：面議
穆勒矩陣測量系統中采用四個光彈性調制器(PEM)，150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hind...
殘余應力檢測 參考價：面議
150AT 應力雙折射系統是Hinds應力雙折射測量系統家族系列產品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可...
殘余應力測量 參考價：面議
該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。...
Hinds 參考價：面議
美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系...
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