產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 石油,地礦,能源,交通,航天 |
產品簡介
詳細介紹
超聲波相控陣探傷儀是一種高級的無損檢測設備,用于檢測材料內部的缺陷、裂紋或其他不可見的問題。它利用超聲波技術,通過發射和接收多個超聲波束,并對其進行精確控制和聚焦,以形成掃描區域內的詳細圖像。
相控陣探傷儀由多個傳感器組成,每個傳感器都可以獨立發射和接收超聲波信號。這些傳感器的位置可以根據需要進行調整,從而實現對特定區域的蓋。當超聲波束穿過被檢測材料時,它們會與材料內部的缺陷或界面交互,并返回到傳感器進行接收。
超聲波相控陣探傷儀Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了新的研制的OmniScan®SX,這是一款積累了20多年探索相控陣技術的經驗,體現了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器,OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器,針對檢測要求較低的應用,這款儀器操作十分方便,性價比高。
OmniScan SX觸摸屏配有全屏模式選項,更為清晰,用戶僅需在觸摸屏上進行簡單操作,便可訪問許多菜單功能。直觀的界面使用戶可以流暢地進行菜單選擇,縮放,閘門調節,光標移動以及文本和數字的輸入。以上這些特性,加上其它附加的集成功能,包括淺顯易懂的設置和校準向導,迅捷的S掃描和A掃描顯示更新率,和快速的脈沖重復頻率(PRF),使OmniScan SX成為一款高效的檢測工具。
OmniScan SX能與Olympus數量龐大的掃查器、探頭和附件產品,及其專門的配備軟件NDT SetupBuilder和OmniPC*兼容。硬件和軟件產品的完整結合,使檢測流程從設計、設置到采集、分析變得精簡有效。
新款OmniScan軟件增強了焊縫和腐蝕檢測應用方面的功用和性能。
為了達到持續完善的目標,軟件的界面得到簡化,反應時間得到優化,從而可使用戶盡可能體驗到好的檢測操作過程。
新添功能如下:
導出C掃描
帶有組融合功能的新型端視圖
交錯功能
分析模式下的衰減增益
滾動布局,方便了判讀過程
提供更多交互式菜單,提高了訪問能力
得到了優化的主菜單和向導
機載復合扇掃功能
用于縱向焊縫檢測的曲面幾何形狀聲線跟蹤
對于要求使用多探頭配置的應用,多組布局已得到改進,改進后的布局可在軟件的界面中反映掃查器的配置。不同掃查的位置由它們到焊縫中心的距離決定,所提供的布局既容易理解,又漂亮直觀。
OmniScan產品系列
設計
NDT SetupBuilder
NDT SetupBuilder設計軟件是Olympus自動和半自動超聲檢測產品系列的一個*的組成部分。NDT監控人員可以使用NDT SetupBuilder軟件模擬檢測方案,以確定所需使用的適當的聲束數量和聲束角度。模擬配置可被導入到OmniScan,從而可減少配置時間和操作錯誤。
您的需要…………Olympus解決方案
在過去的幾年中,為滿足客戶的需求,Olympus投入了大量精力創建了各種完整的解決方案,并將這些方案投放到市場、付諸實踐。
采集
OmniScan
OmniScan探傷儀具有完成手動和自動探傷應用的強大檢測性能。這些探傷儀可以與各種探頭、掃查器和附件配套使用,從而使Olympus成為為石油化工、航空航天及其它工業領域提供無損探傷解決方案的*。
數據分析和報告制作
OmniPC
OmniPC軟件帶有與OmniScan機載軟件相同的分析和報告工具,是用于基于PC機的OmniScan數據分析的為經濟有效的選購項目。
TomoView
TomoView 2.10帶有高級數據處理、分析和報告工具,可以幫助用戶從檢測數據中獲得有關被檢材料的更為詳細的信息。
TomoView的性能如下:
體積融合,可進行多組數據顯示。
C掃描融合,用于表現組合數據。
信噪比(SNR)分析和優化工具。
高級離線數據生成工具。
設置
可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設置,然后再通過SD卡或USB鑰匙,將設置直接導入到OmniScan SX儀器。進行采集之前,只需在儀器中進行幾項基本操作,如:設置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個特性,用戶也可以在儀器中非常方便地創建設置:
自動探頭識別
單步驟、預先配置應用的向導。
焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬。
校準
為完成一項符合規范的檢測,儀器中的校準向導可以保證每組中的每個聚焦法則都直接等同于一個單通道常規探傷儀。用戶在完成所要求的校準過程中,會得到向導的分步指導。所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器?,F在,儀器可以自動完成TOFD PCS校準與直通波矯直的操作。
采集
在進行手動、單線或光柵編碼掃查時,OmniScan SX可以方便地對檢測參數進行配置。采集數據可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上,用戶還可以將數據存儲于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設備中。
智能布局
全屏模式,可更好地顯示缺陷。
可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理
數據分析和報告制作
數據光標、參考光標與測量光標用于缺陷的定量。
擴展的數據庫、預先定義的三角學參數列表、缺陷相對于軸的統計數據、體積位置信息、基于規范的合格標準、腐蝕成像的統計數據等等。
在進行離線閘門重新定位的操作中,視圖可被鏈接在一起,進行交互式分析和自動更新。
優化的預置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。
無論您想在計算機中完成數據分析,還是希望您的OmniScan儀器采集完數據后繼續在現場進行數據分析,OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。