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Thermal shock test box -詳細資料報價歡迎垂詢
一、Thermal shock test box 用途：
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
二、滿足標準：
1. GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
2. GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7. IEC68-2-14 試驗N
8. 國軍標GJB150.3-86
9. 國軍標GJB150.4-86
10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
三、 控制方式與特色：
利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽，依動作需要打開DAPER，達到快速沖擊效果；平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)，以P.I.D.方 式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用。
四、技術(shù)參數(shù)：
1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃
2、 溫度上限：+200℃
3、 溫度下限：-80℃
4、 溫度偏差：±2℃
5、 溫度波動度：±0.5℃
6、 溫度恢復時間：5min
7、 溫度恢復條件：高溫+150℃保溫≥35min低溫-40℃保溫≥30min.
8、 試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動
9、試品重量：≤3kg
10、高溫室升溫時間：35min (+20℃～+170℃)
11、低溫室降溫時間：70min (+20℃～-55℃)
12、噪音：（dB）≤65
13、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護接地
14、總功率：13KW
六、 型號及內(nèi)箱尺寸（W寬XH高X深D）
ZT-30A-S W寬300XH高350XD深300mm
ZT-50A-S W寬350XH高400XD深350mm
ZT-80A-S W寬400XH高500XD深400mm
ZT-150A-S W寬500XH高600XD深500mm
ZT-252A-S W寬600XH高700XD深600mm
ZT-408A-S W寬600XH高850XD深800mm
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