美國DataRay的導軌式光束質量分析儀

導軌式光束分析儀，測量光束質量因子M2，發散角

美國Dataray針對需要測量M2的客戶提供了相機成像和狹縫掃描系統，除了可以用來測量M2，還可以測量發散角、光束輪廓、束腰直徑等。

ISO 11146標準對于M2的測量要求在光束的瑞利長度范圍內至少取15組數據以上，然后取其合理數值的平均值得出較為準確的M2值；在大多數情況下，這就需要導軌式光束質量分析儀在傳播方向上多次移動取點。

為得到精確度較高的M2值，美國dataray推出的光束輪廓分析儀Beam R2狹縫系列和光斑分析儀WinCamD系列可以和M2DU系列導軌搭配使用，從而符合ISO 11146標準。

M2DU系列導軌特點：

- 分辨率小于1 μm

- 可以與dataray軟件兼容

- 符合RoHS和CE標準

- 有50，200，500，1000 mm的長度

為什么要關注激光的光束質量因子——M2，很多外行的人都會有這樣的一個問題。M2是激光或激光系統質量保證或者交付驗收的一個標準，是導致實際聚焦光斑直徑比預測計算的要大的原因，也是激光束通過光學系統傳播一個不變的屬性并且可以用來描述傳播路徑上任何點的光束。

實際的激光束并非按照理想實現，由于激光腔、激光介質和附屬光學器件的限制意味著大多數的光束并不能達到標準的衍射極限、高斯剖面或純TEM00模式。復雜的光束需要經過多種模式的傳播，增加了M2值。即使是條件好的的實驗室里的HeNe激光器的M2值也約為1.05到1.2，而不是標準的TEM00光束的1.0。

導軌式M2測量儀——WinCamD系列：

       - 靈敏的成像系統

       - 可以測量大范圍的M2

       - 可以適用于脈沖光和連續光

       - 190-1600 nm的寬波段范圍，11.3 x 11.3 mm的傳感器尺寸，5.5 x 5.5 μm的像素尺寸

導軌式光束分析儀——Beam R2系列：          

       - 高分辨率（0.1 μm）單平面掃描系統

       - 可以測量大范圍的M2

       - 可以測量連續光和重復頻率大于（500 / Beam diameter in μm）KHz的脈沖光

       - 波長范圍從190 nm到2500 nm

       - 搭配導軌M2DU系列可以測量M2和發散角等

美國DataRay的導軌式光束質量分析儀