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布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計創新，Bruker探針式表面輪廓儀（臺階儀）；實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性5Å。產品源自...

采用創造性的達芬奇設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及*集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在...

D2 PHASER是德國布魯克AXS公司推出的桌面型多晶X射線衍射儀，通過Bragg-Brentano幾何，可以獲得高質量的衍射數據，用于定性、定量分析、晶粒大...

Quadra 系列X射線檢測系統的專li型QuadraNT 密封式X射線管技術，超越光學成像，可實現電子產品及元器件內部遮蔽區域的無損檢測，zui高可放大680...

?Nordson DAGE NT500 免維護、密封傳送型 X 射線管?經驗證的 < 0.5 μm 特征識別 160 kV 管（...

?Nordson DAGE NT500 免維護、密封傳送型 X 射線管?經驗證的0.5 μm 特征識別160 kV 管（10 W 靶功率）?始終保留次微米能力?...

Quadra™3;適用于生產應用的高質量X射線檢測Quadra™3是您進行生產線質量控制的高質量X射線檢測的合作伙伴。檢測各種制造缺陷，...

Quadra 7 擁有jian端yi流的 X-射線檢測性能，功能非常強大，可以為您無損檢測到 0.1µm 的缺陷。Quadra 7 是yi款 X-射線...

Quadra™5 是一款 X-射線檢測系統，適用于亞微米材料的應用如 PCB 和半導體封裝檢測、假冒成分篩選和成品質量控制。

Jordan Valley公司新設計的Delta-X是多功能的X射線衍射設備，可靈活應用于材料科學研究、工藝開發、與生產質量控制。Delta-X衍射儀的光源臺和...

QC3 高分辨率X射線衍射儀是Jordan Valley公司推出的半導體生產質量控制設備的新機型，專注于化合物半導體產業中的生產監控需求。Jordan Vall...

應用：對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等，提供*非接觸式測量方案，樣品從小至微米級別的微機電器件（MEMS），大到整個引擎部件，...

應用：對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等，提供*非接觸式測量方案，樣品從小至微米級別的微機電器件（MEMS），大到整個引擎部件，...

MultiMode平臺是應用廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經在成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其高分辨率和高性能，的多功能性，以及已經得到充分證實的效率和...

SEC公司研發生產的桌上掃描電鏡（Mini-SEM）實現了大電鏡的小型化處理，結構緊湊操作便捷，Mini-SEM以其人性化實用性設計及實惠的價格，成為了廣泛應用...

鎢燈絲掃描電鏡：VEGA系列的設計適合各種SEM應用及當今研究和工業的需求。經過10多年的不斷發展，TESCAN已經成功開發、研制和制造了VEGA的第三代產品。...

基于高分辨率肖特基FEG-SEM鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒，LYRA3 FIB-SEM是一款SEM與FIB良好結合的一體化系統，能夠滿足高要求客戶的需要。新一代...

第yi個*集成式Xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----FERA3，提供了超高離子束束流（zui高束流為2µA），其濺射速度比Ga離子源高50多倍...

一代的TESCAN--場發射掃描電鏡給用戶帶來了的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等）...

S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的第yi個新成員，是yi款超高分辨雙束FIB-SEM系統，它可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以...