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基睿儀器（上海）有限公司
主營產品： EXTECH代理,EXTECH中國特級代理,EXTECH一級代理,EXTECH供貨平臺 |
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更新時間：2016-04-06 09:45:00瀏覽次數：817
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EXTECH CG204 測厚儀,CG204 涂層測厚儀,EXTECH一級代理 質量保證,*,: 蘇
產品展示圖如下所示：
EXTECH CG204 測厚儀,CG204 涂層測厚儀,EXTECH一級代理 特征：
基板自動識別
鐵基體的磁感應
有色金屬襯底渦流測量
易于使用的菜單系統
兩種測量模式：單次和連續
兩種工作模式：直接和組
存儲400讀數：80直接和320組
用戶可編程的高/低報警
zui小/zui大/平均，一個或兩個點校準
兩節AAA電池，USB電纜，軟件校準校準鐵，鋁，精度標準，和袋盒
規格:
傳感器探頭 鐵磁性 非鐵磁性
測量原理 磁感應 渦流原理
測量范圍
鍍膜厚度
0～1250μm
0～49.21mils
0～1250μm
0～49.21mils
精確度1
（讀數的 %）
0～850μm:±(3% + 1μm)
850μm ～1250μm:(±5%)
0～33.46mils:±（3% +
0.039mils）
33.46mils ～49.21mils:
(±5%)
0～850μm:±(3% + 1.5μm)
850μm ～1250μm:(±5%)
0～33.46mils:±（3% +
0.059mils）
33.46mils ～49.21mils:
(±5%)
分辨率 0～50μm:（0.1μm）
50μm ～850μm:（1μm）
850μm ～1250μm:
（0.01μm）
0～1.968mils:（0.001mils）
1.968mils～33.46mil:s
（0.01mils）
33.46mils～49.21mils:
（0.1mils）
0～50μm:（0.1μm）
50μm ～850μm:（1μm）
850μm ～1250μm:
（0.01μm）
0～1.968mils:（0.001mils）
1.968mils～33.46mils:
（0.01mils）
33.46mils～49.21mils:
（0.1mils）
zui小曲率半徑
基材
1.5mm（59.06”） 3mm（0.004”）
基材zui小區域的直徑
7mm（275.6”） 5mm（196.9”）
基材的基本臨界厚度
0.5mm（19.69”） 0.3mm（11.81）
工業標準 符合 GB/T 4956-1985、GB/T 4957-1985、JB/T 8393-1996、JJG
889-95 以及 JJG 818-93 的要求
工作溫度 32°F~104°F (0°C~40°C)
相對工作濕度(R.H.)
20%~90% 相對濕度
尺寸 4.3 x 2.0 x 1.0”（110 x 50 x 23mm）
重量 3.9 oz.（100g）
精確度聲明適用于經過歸零及校準后接近待測薄膜厚度，以及使用相同的基底金屬并且儀表在環境溫度下較為穩定的平面上使用。應將基準薄膜或任何參照標準的精確度添加到測量結果中。
EXTECH CG204 兩點校準
此方法需要使用兩個薄膜。如有可能，較厚的薄膜的厚度應是較薄的薄膜的 1.5 倍。為了獲得*校準結果，預期的厚度值應在兩個校準值之間。
此方法特別適用于獲得高精度讀數。建議采用多次校準所得的平均值。這樣會大幅減少在校準上限值和下限值時出現的分散的影響。
1. 進行零點校準（上述）
2. 啟用選項編程菜單中的校準模式。
3. 對較薄的校準基準薄膜進行一點校準（上述）。
4. 使用較厚的校準薄膜（比如 997?m）重復步驟 3.
5. 關閉儀表可保存測量值。
EXTECH CG204 校準注意事項：
1. 校準薄膜的厚度應大致上等于待測鍍膜厚度的估算值。
2. 可按需要進行多次校準。舊的校準數據會被覆蓋，但零點校準數據會一直存儲在內存中，直至進行另一次零點校準。
EXTECH CG204 噴砂表面的校準
噴砂表面的物理性質會產生比正常鍍膜厚度讀數高的值。超過峰值的平均厚度值可通過以下方法確定：
1. 應按校準說明對儀表進行校準。使用曲率半徑相同且基質與待測設備相同的光滑的校準樣品。
2. 對于無鍍膜、表面噴砂的樣品，用大約 10 個讀數生成平均值 Xo.
3. 對于鍍膜、表面噴砂的樣品，在此基礎上再增加 10 個讀數生成平均值 Xm
4. 這兩個平均值之差為超過峰值的鍍膜厚度平均值 Xeff.此外，應考慮到對于兩個值 Xm 和 Xo的較大的標準方差‘S’：Xeff = (Xm - Xo) ±S
注意：對于厚度超過 300µm 的鍍膜，粗糙度的影響通常不太重要，因此，不必采用上述校準方法
