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詳細摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率，F10-RT使Filmetrics的分析能力實現了同步測量反射率與穿透率。只要立即的...

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詳細摘要： 桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學膜厚測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統 依靠 F50的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的...

詳細摘要： Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統 ，精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反...

詳細摘要： Filmetrics 光學膜厚測量儀依靠 F60 的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測...

詳細摘要： Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可 靠地薄膜測量。大多數厚度...

詳細摘要： -Filmetrics光學膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過...

詳細摘要： 借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，...

詳細摘要： -Filmetrics光學膜厚測量儀：F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本多...

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詳細摘要： Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細摘要： Filmetircs 光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達4...

詳細摘要： Filmetrics膜厚測量儀:F10-AR 是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的儀器。 雖然價格大大低于當今絕大多數同類儀器，應用幾項技術， F10-A...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀：以F20平臺為基礎所發展的F10-HC薄膜測量系統，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀：以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統價格的一小部分，用戶就能進行低/高分析、確定...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀 F60-t 系列就像我們的 F50產品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產環境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、...

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詳細摘要： Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系統-Filmetrics膜厚測量儀的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜...