美國博曼（Bowman）Bowman BA系列臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

Bowman B系列機型采用業界前列的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。

Bowman B系列機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應嚴格的微區、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優質的測試性能、突出的微區測量能力，Bowman B系列機型是研究開發、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩定的X射線管

         ● 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點

         ● 射線出射點預置于射線管Be窗正中央

         ● 長壽命的射線管燈絲

         ● 預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結構

         ● 顯著提高X射線信號強度

         ● 獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度

         ● 小于100um直徑的測量斑點

         ● 經過驗證，接近優秀的測量精度

應用領域：

常見的鍍層應用:

         PCB行業

         Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架

         Ag/Cu

         Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業

         Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

         Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材

         Sn/Cu

珠寶、貴金屬

         10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等

美國博曼高性能XRF鍍層測厚儀

三十余年深耕鍍層測厚事業經歷不斷創新、獲得廣泛好評

具備廣泛的鍍層厚度測量范圍（可對13號鋁元素到92號鈾元素進行高精度測量分析）

   成為越來越多行業的滿意選擇 

可為您提供高精度，快速簡便的測量和分析