美國博曼（Bowman）K系列 XRF 高精度涂層測(cè)量系統(tǒng)

K 系列是客戶測(cè)量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm）×12英寸（304mm）可測(cè)量區(qū)域。自動(dòng)多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸，以適應(yīng)各種特征尺寸；可變焦攝像頭允許在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。

配置

K 系列的標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)4位（4、8、12和24mil）多重準(zhǔn)直器；

可選尺寸為2x2 mil 至60mil。可變焦距便于在凹陷區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。

同服電機(jī)驅(qū)動(dòng)的可編程平臺(tái)可通過可選的 xyz程序進(jìn)行零件測(cè)量。

程序可使用模式匹配和自動(dòng)對(duì)焦來確保精確測(cè)量。

與所有 Bowman XRF 系統(tǒng)一樣，K系列配備了標(biāo)準(zhǔn)的硅漂移探測(cè)器（SDD）和長壽命微聚焦×射線管。