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薄膜厚度測量儀 詳細摘要: 借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統(tǒng),可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量,...
產(chǎn)品型號:F54-XY-200 所在地:上海市 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
-Filmetrics光學膜厚測量儀 詳細摘要: -Filmetrics光學膜厚測量儀:F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤,加上附加的分光計,可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本多...
產(chǎn)品型號:F32 所在地:上海 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜厚度測量儀 詳細摘要: 借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統(tǒng),可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚...
產(chǎn)品型號:F54-XYT-300 所在地:上海市 更新時間:2024-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
主動式防震系統(tǒng) 詳細摘要: 主動式防震系統(tǒng)主動式防振系統(tǒng)( AVI)能夠為科研、工程和生產(chǎn)過程所需要的精密儀器提供一個穩(wěn)定的測量環(huán)境。。。。
產(chǎn)品型號:AVI 400MLP 所在地:上海 更新時間:2024-07-08 參考價: 面議 在線留言 -
桌上型主動式隔振臺 詳細摘要: 桌上型主動式隔振臺特點:*TS 的隔震性能在0.7-100Hz 范圍提供6自由度3軸的主動隔震。*自動高度調(diào)節(jié)讓儀器擺放隨心所欲.*水平自動調(diào)節(jié)功能即使負載重心...
產(chǎn)品型號: 所在地:上海 更新時間:2024-07-08 參考價: 面議 在線留言 -
桌上型主動式減震臺 詳細摘要: 桌上型主動式減震臺*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果,同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設計-封閉式鋁制機身與臺面...
產(chǎn)品型號:MINI系列 所在地:上海 更新時間:2024-07-08 參考價: 面議 在線留言 -
主動式減震系統(tǒng) 詳細摘要: 主動式減震系統(tǒng)*空間6自由度主動減振-擁有全頻段的抗振動效果,同時沒有共振*LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設計-封閉式鋁制機身與臺面,避...
產(chǎn)品型號:MINI系列 所在地:上海 更新時間:2024-07-08 參考價: 面議 在線留言 -
低頻消磁系統(tǒng) 詳細摘要: UNICORN α500 系列低頻消磁系統(tǒng)( EMI Canceling System,又稱消磁器),DC 與 AC 雙模式主動消磁器,采用高精度純直流測量/反...
產(chǎn)品型號:α500系列 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言 -
主動式防震系統(tǒng) 詳細摘要: 一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統(tǒng),可以用主動隔振系統(tǒng)消除共振。 KURASHIKI 通過在發(fā)展主動防震系統(tǒng)的同時補充了被動系統(tǒng),主動防震系統(tǒng)...
產(chǎn)品型號:EST-L 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言 -
桌上型主動式隔振臺 詳細摘要: mini 桌上型主動式隔振臺新設計,易使用
產(chǎn)品型號:EST-58-450 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言 -
Lumina薄膜缺陷檢測儀 詳細摘要: Lumina AT2薄膜缺陷檢測儀實現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。在...
產(chǎn)品型號:AT2 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言 -
Lumina薄膜缺陷檢測儀 詳細摘要: Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀實現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。在...
產(chǎn)品型號:AT1 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言 -
Filmetrics薄膜厚度測量儀 詳細摘要: Filmetrics薄膜厚度測量儀:F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理,可以測試眾多半導體及電解層的厚度,可測大厚度達3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面...
產(chǎn)品型號:F3-sX系列 所在地:上海 更新時間:2023-08-25 參考價: 面議 在線留言 -
Filmetircs 光學膜厚測量儀 詳細摘要: Filmetircs 光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng),如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息,咨詢。
產(chǎn)品型號:F3-sX 所在地:上海 更新時間:2023-08-25 參考價: 面議 在線留言 -
HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀 詳細摘要: HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設計,操作簡單,可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析,并輸出分析報告。是用于快速薄膜測...
產(chǎn)品型號:Auto SE 所在地:上海 更新時間:2023-08-22 參考價: 面議 在線留言 -
四探針電阻率測量儀 詳細摘要: Filmetrics R54四探針電阻率測量儀是KLA薄膜電阻和導電率測繪系統(tǒng),從半導體制造到實現(xiàn)可穿戴技術所需的柔性電子產(chǎn)品,薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導電薄膜...
產(chǎn)品型號:R54 所在地:上海市 更新時間:2023-08-22 參考價: 面議 在線留言 -
四探針電阻率測量儀 詳細摘要: Filmetrics R50四探針電阻率測量儀系列提供接觸式四點探針(4PP)和非接觸式渦流(EC)測量。
產(chǎn)品型號:R50 所在地:上海市 更新時間:2023-08-22 參考價: 面議 在線留言 -
-Filmetrics膜厚測量儀 詳細摘要: -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達4...
產(chǎn)品型號:F54 所在地:上海 更新時間:2023-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
多波長橢偏儀 詳細摘要: Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可靠地薄膜測量...
產(chǎn)品型號:Film Sense FS-1 所在地:上海 更新時間:2023-07-24 參考價: 面議 在線留言 -
白光共聚焦 詳細摘要: Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡,可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™技術,可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和Tr...
產(chǎn)品型號:Zeta-20 所在地:上海 更新時間:2023-07-24 參考價: 面議 在線留言